>>

ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ

Актуальность

C начала 1960-х годов начались активные попытки применения широкозонных полупроводников, таких как GaAs, CdTe, HgI2, из которых наибольшее внимание привлек к себе CdTe (CdZnTe), как материал, предоставляющий возможность получения превосходного энергетического разрешения, в частности, это дает возможность использования материала в приложениях, где требуется разрешение отдельных близко стоящих линий (1-6 кэВ) для компактных детекторных систем [1-6].

CdTe (CdZnTe) обладает характеристиками, делающими его привлекательным для использования в исследовательских, промышленных и медицинских приложениях. Созданные в последнее десятилетие полупроводниковые детекторы на основе полупроводников (CdTe, CdZnTe, HgI2, GaAs), позволили решить широкий ряд практических задач создания аналитических приборов экспресс-анализа состава материалов. Детекторы из этих кристаллов не требуют охлаждения до температуры жидкого азота, для обеспечения малых темновых токов достаточно малогабаритного термоэлектрического охладителя мощностью 1-4 Вт, что существенно упрощает конструкцию регистрирующих элементов аналитических приборов по сравнению с приборами, созданными на основе HPGe (особочистого германия), которые громоздки из-за использования систем охлаждения жидким азотом или электромеханических охладителей.

Монокристаллы CdTe (CdZnTe), выращенные существующими методами, обладают рядом недостатков: неоднородность микроструктуры, преципитаты, малоугловые границы, дислокации, включения Те (1-5 мкм) в виде второй фазы, низкая теплопроводность. Неоднородность материала, дефекты приводят к невозможности уменьшить размер пикселей и шаг стрипов на координатно-чувствительных детекторах, а также увеличивает рабочее напряжение смещения детекторов, наблюдается поляризация планарных CdTe детекторов. При сохранении динамики улучшения параметров кристаллов в ближайшее время их использование расширится в различных областях науки и техники: астрофизика (гамма- и рентгеновская спектроскопия); медицина (компьютерные томографы, SPECT- и РЕТ-сканеры, костные денситометры, X-Ray и гамма-камеры); геологоразведка и металлургия (каротаж скважин, неразрушающий контроль материалов); ядерные технологии (ограничение распространения ядерных и радиоактивных материалов, контроль и паспортизация ядерных отходов).

Актуальность исследования в направлении поиска исходного материала с оптимальными полупроводниковыми (ширина запрещённой зоны 1.48÷1.5 3B) и электрофизическими свойствами (высокое удельное сопротивление ~1О10 Ом-см; транспортные характеристики - подвижность и время жизни носителей - μτe-(3÷30)∙10^3и (l÷3)∙10^3cm2∕B дляCdZnTe и CdTe, соответственно) для практического применения в виде полупроводниковых детекторов и спектрометров, практического использования широкозонных неохлаждаемых полупроводниковых соединений CdTe и CdZnTe группы (A2B6) в РФ, обусловлена требованиями наличия высоких характеристик в жестких условиях эксплуатации, миниатюризацией детекторов и сопутствующей электроники, энергетическим микропотреблением, применением новых алгоритмов обработки спектрометрической информации.

Успехи применения спектрометрических детекторов рентгеновского и гамма- излучения на основе CdTe и CdZnTe, в изделиях для медицины, космических исследований и для экспериментов в области ядерной физики и радиационной безопасности, требуют высоких эксплуатационных характеристик детекторов, повышения их чувствительного объёма и энергетического разрешения [7].

Современные детекторы CdTe, CdZnTe по своим конструктивным и технологическим особенностям качественно отличаются от детекторов старого поколения, и их воспроизводство предполагает существенное повышение информации о характеристиках материала, о технологических способах их обработки. При разработке новых приборов существует потребность в исследовании электрофизических характеристик CdTe, CdZnTe; при этом важно проводить такие работы комплексно, так как использование различных методик позволяет дополнять представления об исследуемых параметрах материала и о процессах, лежащих в основе функционирования приборов. Конструирование приборов, работающих на новых принципах, трудноосуществимо без применения компьютерного моделирования аппаратурного спектра или функциональных процессов в полупроводнике.

Цель настоящей работы:установление корреляции между электрофизическими параметрами исследуемых кристаллов CdTe и CdZnTe и детектирующих структур на их основе и характеристиками детекторов ионизирующих излучений.

Выбор объектов исследования обусловлен практической значимостью кристаллов и возможностью совершенствования их параметров. В соответствии с целью были поставлены следующие основные задачи:

1. Разработать комплексную методику и исследовать электрофизические характеристики кристаллов CdTe и CdZnTe.

2. Определить критические параметры материала, конструктивных элементов и особенностей технологии изготовления детектирующих структур (на основе кристаллов CdTe и CdZnTe), влияющих на качество детекторов и приборов.

3. Экспериментально изучить связь электрофизических характеристик с прецизионными спектрометрическими характеристиками.

4. Исследовать характеристики спектрометра энергий ионизирующих излучений на основе CdZnTe детектора.

Научная новизна

Установлено, что транспортные свойства электронов на детектирующих структурах CdZnTe выше, чем на CdTe; хорошие параметры транспортного переноса μτe электронов на детекторных структурах CdZnTe определяются малой концентрацией глубоких и мелких центров захвата носителей. Зафиксированные в монокристаллах ловушки, влияющие на транспортные характеристики, имеют энергию (эВ): (0.32-0.33), (0.19-0.23), (0.44-0.46), (0.65-0.83); (0.91-0.94).

Разработана математическая модель процесса сбора заряда и формирования амплитудного спектра в детекторах на основе CdTe, CdZnTe при облучении гамма-квантами и выполнена ее апробация с использованием экспериментальных результатов измерений спектрометра на основе CdZnTe.

Разработана методология контроля электрофизических характеристик монокристаллов CdTe и CdZnTe, используемых для изготовления детекторов ионизирующих излучений.

Разработаны методы изготовления планарных и квази- полусферических детекторов, детекторов с р-і-п-структурами, копланарных, стриповых и пиксельных детекторов и детекторных сборок на основе CdTe, CdZnTe для промышленного применения в дозиметрах, радиометрах, идентификаторах изотопного состава, спектрометрах рентгеновского и гамма-излучения, гамма-визорах, радиационных томографах и для научных исследований.

Теоретическая и практическая значимость

Впервые в РФ проведено комплексное исследование и выявлены особенности электрофизических параметров и свойств монокристаллов CdTe, CdZnTe ведущих отечественных и зарубежных производителей. Выполнение исследований определяется потребностями атомной отрасли, медицины, различных отраслей науки и техники в широкозонных полупроводниковых детекторах с улучшенными метрологическими

свойствами и возможностью работы при температурах окружающей среды до +60oC.

Систематизация электрофизических характеристик по типам технологий изготовления детекторов, позволяет оптимально разделять применения монокристаллов: для спектрометрии, для радиометрии, для дозиметрии ионизирующих излучений разных энергий и видов частиц.

Численные значения электрофизических характеристик используются при расчете оптимальных формы и размеров детектора ионизирующего излучения на основе CdZnTe, CdTe и системы электродов для дальнейшего практического применения в спектрометрах энергий ионизирующих излучений.

Результаты работы использованы при выполнении:

- OKP по созданию портативных средств обнаружения радиоактивных материалов (для АО «ФЦНИВТ «СНПО «Элерон»);

- OKP «Создание датчиков для измерительных каналов диагностики физических процессов ядерных энергетических установок на быстрых нейтронах» (для НИЯУ МИФИ);

- OKP «Разработка современного комплекса малогабаритных радиометрических и спектрометрических приборов и ренгенфлуоресцентного анализатора состава вещества на основе детекторов из широкозонных полупроводниковых материалов CdTe, CdZnTe» (для ГК «Росатом»);

- НИОКР «Исследование возможностей построения детекторов ионизирующего излучения на основе перспективных полупроводниковых структур для диагностики физических процессов ядерно-энергетических установок на быстрых нейтронах» (для АО «СНИИП»);

- НИОКР «Разработка комплекса технических средств для измерения объемной активности инертных радиоактивных газов в выбросах предприятий ядерного топливного цикла и других ядерно- и радиационно­опасных объектов» (для НИЯУ МИФИ).

Методология и методы исследования

В работе использовалась методология комплексного исследования полупроводниковых материалов CdZnTe, CdTe с применением различных методик и средств, включающих: измерение транспортных характеристик μτ; определение подвижности с помощью время-пролётной техники; определение параметров уровней захвата; измерение удельного сопротивления, определение объёмной и поверхностной составляющих токов утечки; исследование глубоких уровней и ловушек захвата и рекомбинации; исследования однородности; измерения электрического поля в детекторе.

Отдавалось предпочтение таким методикам исследования материала, изучаемые параметры которых непосредственно связаны с основными характеристиками детекторов или прямо влияющие на них.

Научные положения, выносимые на защиту

1. Математическая модель процесса сбора заряда и формирования амплитудного спектра в детекторах на основе CdZnTe и CdTe при облучении гамма-квантами, учитывающая шумовой вклад электроники (предварительного и формирующего предусилителей).

2. Разработанная методика измерения спектральных характеристик фотопроводимости обеспечивает обнаружение и определение концентрации примесных центров в полупроводниковом материале, позволяет выявлять природу глубоких центров, изучать поверхностную рекомбинацию носителей заряда, оценивать поверхностное качество контактов при отработке технологии травления поверхности и ее пассивирования.

3. Высокая эффективность детекторов на основе монокристаллов обеспечивается электрофизическими параметрами материала в следующих пределах: удельное сопротивление IO10Ом-см, транспортные характеристики (для электронов, μτe)∖ (3÷30)∙10^3для CdZnTe и (l÷3)∙10^3 cm2∕Bдля CdTe.

4. На транспортные характеристики монокристаллов CdTe и CdZnTe основное влияние оказывает наличие глубоких ловушек и степень их заполнения.

Достоверность результатовдиссертации обеспечивается проверкой теоретических положений экспериментальными исследованиями; корректной постановкой исследовательских задач; применением современных методов исследования и обработки экспериментальных результатов; апробацией на международных и всероссийских конференциях; публикациями основных результатов работы в рецензируемых центральных изданиях; использованием результатов работы на практике.

Основное содержаниеработы опубликовано в 12 печатных работах, включая 4 статьи в изданиях, рекомендованных ВАК.

Апробация работыОсновные результаты диссертационной работы были представлены на форумах и конференциях: «ИНТЕРРА-2011» (г. Новосибирск); «Современные методы и технологии ядерного приборостроения» Россия (г. Москва, ОАО «СНИИП», 2012); XIX Международная научно-практическая конференция студентов и молодых учёных «Современная техника и технологии - 2013» (г.

Томск,); «Ядерное приборостроение - 2013. Аппаратурное обеспечение» (г. Москва, ОАО «СНИИП»); 9th International Workshop 2014 Strong Micro waves and

terahertz waves: sources and applications (Nizhniy Novgorod); LXV международная конференция NUCLEUS-2015 (CΠ6.); XIII международное совещание «Проблемы прикладной спектрометрии и радиометрии» (г. Санкт-Петербург, 2015).; XIII Международная конференция «Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов» (г. Курск, 2016); 19th World Conference on Non-Destructive Testing (Мюнхен, 2016); Международная конференция «ЯДРО-2016» (г. Саров, 2016); семинар НТЦ УП РАН (г. Москва, 2016); научно-техническая конференция АО «СНИИП» (г. Москва, 2017); VI Международная конференция по фотонике и информационной оптике (г. Москва, 2017); 3-я Международная научно- практическая конференция «Физика и технология наноматериалов и структур» (г. Курск, 2017).

Работа по теме диссертации проводилась в соответствии с тематическими планами НИР, в рамках государственного контракта № H.4x.44.90.13.1125 на выполнение научно-исследовательской и опытно­конструкторской работы «Разработка параметрического ряда детекторов рентгеновского и гамма-излучения нового поколения и технологии их создания на основе проведения комплексных исследований широкозонных полупроводниковых материалов CdTe и CdZnTe».

Личный вклад автора.Диссертантом совместно с научным руководителем проводились выбор темы, планирование работы, постановка задач и обсуждение полученных результатов. Автором самостоятельно выполнены эксперименты по исследования электрофизических свойств монокристаллов, исследованию радиометрических и спектрометрических характеристик детектирующих структур, изготовленных из отобранных монокристаллов CdTe и CdZnTe, исследованы характеристики спектрометра энергий ионизирующих излучений на основе квазиполусферического CdZnTe детектора. Автором проведены расчеты, обработаны полученные результаты.

Структура и объём диссертационной работы.Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, основных результатов и выводов, списка литературы. Работа содержит 168 страниц основного текста, 90 рисунков, 30 таблиц, список литературы включает 88 источников.

| >>
Источник: Смирнов Александр Александрович. ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТИРУЮЩИХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ CdTe и CdZnTe. АВТОРЕФЕРАТ диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2018. 2018

Еще по теме ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ:

  1. Общая характеристика работы
  2. I. Общая характеристика диссертационной работы
  3. Глава I. Общая характеристика специальности 040110 – Общая врачебная практика (семейная медицина) и квалификационная характеристика специалиста - врача общей практики (семейного врача)
  4. Средства описания комплекса работ проекта, связей между работами и их временных характеристик
  5. 89. Западноевропейский абсолютизм, его типологизация и общая характеристика. Позднее средневековье (13-15 вв. ). Характеристика периода.
  6. 12.1. Общая характеристика проблемы
  7.   1.1. Общая характеристика акционерного правоотношения 
  8. § 2. Общая характеристика Свода законов
  9. 1. Общая характеристика
  10. Общая характеристика понятия
  11. Понятие, виды и общая характеристика секвестра.
  12. 11.1. Общая характеристика периода
  13. ЧАСТИЦЫ. ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИК
  14. 15. Общая характеристика филологических словарей.
  15. Общая характеристика больных
  16. Общая характеристика погребального обряда
  17. 12.1. Общая характеристика
  18. 23.1. Общая характеристика
  19. 17.1. Общая характеристика
  20. 22.1. Общая характеристика