ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ
Актуальность
C начала 1960-х годов начались активные попытки применения широкозонных полупроводников, таких как GaAs, CdTe, HgI2, из которых наибольшее внимание привлек к себе CdTe (CdZnTe), как материал, предоставляющий возможность получения превосходного энергетического разрешения, в частности, это дает возможность использования материала в приложениях, где требуется разрешение отдельных близко стоящих линий (1-6 кэВ) для компактных детекторных систем [1-6].
CdTe (CdZnTe) обладает характеристиками, делающими его привлекательным для использования в исследовательских, промышленных и медицинских приложениях. Созданные в последнее десятилетие полупроводниковые детекторы на основе полупроводников (CdTe, CdZnTe, HgI2, GaAs), позволили решить широкий ряд практических задач создания аналитических приборов экспресс-анализа состава материалов. Детекторы из этих кристаллов не требуют охлаждения до температуры жидкого азота, для обеспечения малых темновых токов достаточно малогабаритного термоэлектрического охладителя мощностью 1-4 Вт, что существенно упрощает конструкцию регистрирующих элементов аналитических приборов по сравнению с приборами, созданными на основе HPGe (особочистого германия), которые громоздки из-за использования систем охлаждения жидким азотом или электромеханических охладителей.Монокристаллы CdTe (CdZnTe), выращенные существующими методами, обладают рядом недостатков: неоднородность микроструктуры, преципитаты, малоугловые границы, дислокации, включения Те (1-5 мкм) в виде второй фазы, низкая теплопроводность. Неоднородность материала, дефекты приводят к невозможности уменьшить размер пикселей и шаг стрипов на координатно-чувствительных детекторах, а также увеличивает рабочее напряжение смещения детекторов, наблюдается поляризация планарных CdTe детекторов. При сохранении динамики улучшения параметров кристаллов в ближайшее время их использование расширится в различных областях науки и техники: астрофизика (гамма- и рентгеновская спектроскопия); медицина (компьютерные томографы, SPECT- и РЕТ-сканеры, костные денситометры, X-Ray и гамма-камеры); геологоразведка и металлургия (каротаж скважин, неразрушающий контроль материалов); ядерные технологии (ограничение распространения ядерных и радиоактивных материалов, контроль и паспортизация ядерных отходов).
Актуальность исследования в направлении поиска исходного материала с оптимальными полупроводниковыми (ширина запрещённой зоны 1.48÷1.5 3B) и электрофизическими свойствами (высокое удельное сопротивление ~1О10 Ом-см; транспортные характеристики - подвижность и время жизни носителей - μτe-(3÷30)∙10^3и (l÷3)∙10^3cm2∕B дляCdZnTe и CdTe, соответственно) для практического применения в виде полупроводниковых детекторов и спектрометров, практического использования широкозонных неохлаждаемых полупроводниковых соединений CdTe и CdZnTe группы (A2B6) в РФ, обусловлена требованиями наличия высоких характеристик в жестких условиях эксплуатации, миниатюризацией детекторов и сопутствующей электроники, энергетическим микропотреблением, применением новых алгоритмов обработки спектрометрической информации.
Успехи применения спектрометрических детекторов рентгеновского и гамма- излучения на основе CdTe и CdZnTe, в изделиях для медицины, космических исследований и для экспериментов в области ядерной физики и радиационной безопасности, требуют высоких эксплуатационных характеристик детекторов, повышения их чувствительного объёма и энергетического разрешения [7].Современные детекторы CdTe, CdZnTe по своим конструктивным и технологическим особенностям качественно отличаются от детекторов старого поколения, и их воспроизводство предполагает существенное повышение информации о характеристиках материала, о технологических способах их обработки. При разработке новых приборов существует потребность в исследовании электрофизических характеристик CdTe, CdZnTe; при этом важно проводить такие работы комплексно, так как использование различных методик позволяет дополнять представления об исследуемых параметрах материала и о процессах, лежащих в основе функционирования приборов. Конструирование приборов, работающих на новых принципах, трудноосуществимо без применения компьютерного моделирования аппаратурного спектра или функциональных процессов в полупроводнике.
Цель настоящей работы:установление корреляции между электрофизическими параметрами исследуемых кристаллов CdTe и CdZnTe и детектирующих структур на их основе и характеристиками детекторов ионизирующих излучений.
Выбор объектов исследования обусловлен практической значимостью кристаллов и возможностью совершенствования их параметров. В соответствии с целью были поставлены следующие основные задачи:
1. Разработать комплексную методику и исследовать электрофизические характеристики кристаллов CdTe и CdZnTe.
2. Определить критические параметры материала, конструктивных элементов и особенностей технологии изготовления детектирующих структур (на основе кристаллов CdTe и CdZnTe), влияющих на качество детекторов и приборов.
3. Экспериментально изучить связь электрофизических характеристик с прецизионными спектрометрическими характеристиками.
4. Исследовать характеристики спектрометра энергий ионизирующих излучений на основе CdZnTe детектора.
Научная новизна
Установлено, что транспортные свойства электронов на детектирующих структурах CdZnTe выше, чем на CdTe; хорошие параметры транспортного переноса μτe электронов на детекторных структурах CdZnTe определяются малой концентрацией глубоких и мелких центров захвата носителей. Зафиксированные в монокристаллах ловушки, влияющие на транспортные характеристики, имеют энергию (эВ): (0.32-0.33), (0.19-0.23), (0.44-0.46), (0.65-0.83); (0.91-0.94).
Разработана математическая модель процесса сбора заряда и формирования амплитудного спектра в детекторах на основе CdTe, CdZnTe при облучении гамма-квантами и выполнена ее апробация с использованием экспериментальных результатов измерений спектрометра на основе CdZnTe.
Разработана методология контроля электрофизических характеристик монокристаллов CdTe и CdZnTe, используемых для изготовления детекторов ионизирующих излучений.
Разработаны методы изготовления планарных и квази- полусферических детекторов, детекторов с р-і-п-структурами, копланарных, стриповых и пиксельных детекторов и детекторных сборок на основе CdTe, CdZnTe для промышленного применения в дозиметрах, радиометрах, идентификаторах изотопного состава, спектрометрах рентгеновского и гамма-излучения, гамма-визорах, радиационных томографах и для научных исследований.
Теоретическая и практическая значимость
Впервые в РФ проведено комплексное исследование и выявлены особенности электрофизических параметров и свойств монокристаллов CdTe, CdZnTe ведущих отечественных и зарубежных производителей. Выполнение исследований определяется потребностями атомной отрасли, медицины, различных отраслей науки и техники в широкозонных полупроводниковых детекторах с улучшенными метрологическими
свойствами и возможностью работы при температурах окружающей среды до +60oC.
Систематизация электрофизических характеристик по типам технологий изготовления детекторов, позволяет оптимально разделять применения монокристаллов: для спектрометрии, для радиометрии, для дозиметрии ионизирующих излучений разных энергий и видов частиц.
Численные значения электрофизических характеристик используются при расчете оптимальных формы и размеров детектора ионизирующего излучения на основе CdZnTe, CdTe и системы электродов для дальнейшего практического применения в спектрометрах энергий ионизирующих излучений.
Результаты работы использованы при выполнении:
- OKP по созданию портативных средств обнаружения радиоактивных материалов (для АО «ФЦНИВТ «СНПО «Элерон»);
- OKP «Создание датчиков для измерительных каналов диагностики физических процессов ядерных энергетических установок на быстрых нейтронах» (для НИЯУ МИФИ);
- OKP «Разработка современного комплекса малогабаритных радиометрических и спектрометрических приборов и ренгенфлуоресцентного анализатора состава вещества на основе детекторов из широкозонных полупроводниковых материалов CdTe, CdZnTe» (для ГК «Росатом»);
- НИОКР «Исследование возможностей построения детекторов ионизирующего излучения на основе перспективных полупроводниковых структур для диагностики физических процессов ядерно-энергетических установок на быстрых нейтронах» (для АО «СНИИП»);
- НИОКР «Разработка комплекса технических средств для измерения объемной активности инертных радиоактивных газов в выбросах предприятий ядерного топливного цикла и других ядерно- и радиационноопасных объектов» (для НИЯУ МИФИ).
Методология и методы исследования
В работе использовалась методология комплексного исследования полупроводниковых материалов CdZnTe, CdTe с применением различных методик и средств, включающих: измерение транспортных характеристик μτ; определение подвижности с помощью время-пролётной техники; определение параметров уровней захвата; измерение удельного сопротивления, определение объёмной и поверхностной составляющих токов утечки; исследование глубоких уровней и ловушек захвата и рекомбинации; исследования однородности; измерения электрического поля в детекторе.
Отдавалось предпочтение таким методикам исследования материала, изучаемые параметры которых непосредственно связаны с основными характеристиками детекторов или прямо влияющие на них.
Научные положения, выносимые на защиту
1. Математическая модель процесса сбора заряда и формирования амплитудного спектра в детекторах на основе CdZnTe и CdTe при облучении гамма-квантами, учитывающая шумовой вклад электроники (предварительного и формирующего предусилителей).
2. Разработанная методика измерения спектральных характеристик фотопроводимости обеспечивает обнаружение и определение концентрации примесных центров в полупроводниковом материале, позволяет выявлять природу глубоких центров, изучать поверхностную рекомбинацию носителей заряда, оценивать поверхностное качество контактов при отработке технологии травления поверхности и ее пассивирования.
3. Высокая эффективность детекторов на основе монокристаллов обеспечивается электрофизическими параметрами материала в следующих пределах: удельное сопротивление IO10Ом-см, транспортные характеристики (для электронов, μτe)∖ (3÷30)∙10^3для CdZnTe и (l÷3)∙10^3 cm2∕Bдля CdTe.
4. На транспортные характеристики монокристаллов CdTe и CdZnTe основное влияние оказывает наличие глубоких ловушек и степень их заполнения.
Достоверность результатовдиссертации обеспечивается проверкой теоретических положений экспериментальными исследованиями; корректной постановкой исследовательских задач; применением современных методов исследования и обработки экспериментальных результатов; апробацией на международных и всероссийских конференциях; публикациями основных результатов работы в рецензируемых центральных изданиях; использованием результатов работы на практике.
Основное содержаниеработы опубликовано в 12 печатных работах, включая 4 статьи в изданиях, рекомендованных ВАК.
Апробация работыОсновные результаты диссертационной работы были представлены на форумах и конференциях: «ИНТЕРРА-2011» (г. Новосибирск); «Современные методы и технологии ядерного приборостроения» Россия (г. Москва, ОАО «СНИИП», 2012); XIX Международная научно-практическая конференция студентов и молодых учёных «Современная техника и технологии - 2013» (г.
Томск,); «Ядерное приборостроение - 2013. Аппаратурное обеспечение» (г. Москва, ОАО «СНИИП»); 9th International Workshop 2014 Strong Micro waves andterahertz waves: sources and applications (Nizhniy Novgorod); LXV международная конференция NUCLEUS-2015 (CΠ6.); XIII международное совещание «Проблемы прикладной спектрометрии и радиометрии» (г. Санкт-Петербург, 2015).; XIII Международная конференция «Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов» (г. Курск, 2016); 19th World Conference on Non-Destructive Testing (Мюнхен, 2016); Международная конференция «ЯДРО-2016» (г. Саров, 2016); семинар НТЦ УП РАН (г. Москва, 2016); научно-техническая конференция АО «СНИИП» (г. Москва, 2017); VI Международная конференция по фотонике и информационной оптике (г. Москва, 2017); 3-я Международная научно- практическая конференция «Физика и технология наноматериалов и структур» (г. Курск, 2017).
Работа по теме диссертации проводилась в соответствии с тематическими планами НИР, в рамках государственного контракта № H.4x.44.90.13.1125 на выполнение научно-исследовательской и опытноконструкторской работы «Разработка параметрического ряда детекторов рентгеновского и гамма-излучения нового поколения и технологии их создания на основе проведения комплексных исследований широкозонных полупроводниковых материалов CdTe и CdZnTe».
Личный вклад автора.Диссертантом совместно с научным руководителем проводились выбор темы, планирование работы, постановка задач и обсуждение полученных результатов. Автором самостоятельно выполнены эксперименты по исследования электрофизических свойств монокристаллов, исследованию радиометрических и спектрометрических характеристик детектирующих структур, изготовленных из отобранных монокристаллов CdTe и CdZnTe, исследованы характеристики спектрометра энергий ионизирующих излучений на основе квазиполусферического CdZnTe детектора. Автором проведены расчеты, обработаны полученные результаты.
Структура и объём диссертационной работы.Диссертационная работа состоит из введения, пяти глав, основных результатов и выводов, списка литературы. Работа содержит 168 страниц основного текста, 90 рисунков, 30 таблиц, список литературы включает 88 источников.
Еще по теме ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА РАБОТЫ:
- Общая характеристика работы
- I. Общая характеристика диссертационной работы
- Глава I. Общая характеристика специальности 040110 – Общая врачебная практика (семейная медицина) и квалификационная характеристика специалиста - врача общей практики (семейного врача)
- Средства описания комплекса работ проекта, связей между работами и их временных характеристик
- 89. Западноевропейский абсолютизм, его типологизация и общая характеристика. Позднее средневековье (13-15 вв. ). Характеристика периода.
- 12.1. Общая характеристика проблемы
- 1.1. Общая характеристика акционерного правоотношения
- § 2. Общая характеристика Свода законов
- 1. Общая характеристика
- Общая характеристика понятия
- Понятие, виды и общая характеристика секвестра.
- 11.1. Общая характеристика периода
- ЧАСТИЦЫ. ОБЩАЯ ХАРАКТЕРИСТИК
- 15. Общая характеристика филологических словарей.
- Общая характеристика больных
- Общая характеристика погребального обряда
- 12.1. Общая характеристика
- 23.1. Общая характеристика
- 17.1. Общая характеристика
- 22.1. Общая характеристика