4.2. Исследование монокристаллов
Если параллельный монохроматический пучок рентгеновских лучей падает на монокристалл, то только случайно набор плоскостей Брэгга может оказаться расположенным под таким углом, что будет происходить дифракция.
Однако можно привести плоскости в необходимое положение, изменяя ориентацию кристалла.Работая с монокристаллами, можно получить всю геометрическую информацию, которая касается ориентации кристалла в процессе измерения, и, таким образом, идентифицировать каждый максимум рентгенограммы монокристалла.
Если кристалл установлен так, что одна из его главных осей перпендикулярна падающим рентгеновским лучам и вращается вокруг этой оси, то получается набор дифракционных максимумов, который фиксируется на фотопленке в виде правильно расположенных точек. В общем случае дифракционные максимумы на фотопленке принято называть рефлексами.
Для регистрации рефлексов можно применять плоскую (рис. 4.6.) или лучше цилиндрическую пленку [3]. Ось цилиндрической пленки должна совпадать с осью вращения кристалла.
Если развернуть цилиндрическую пленку, то можно заметить, что дифракционные максимумы располагаются вдоль ряда горизонтальных прямых линий, называемых обычно слоевыми линиями (рис. 4.7). На плоской пленке слоевые линии имеют форму гипербол и только экваториальная слоевая линия прямая.
Рис. 4.6. Рентгенограмма хлористого натрия, полученная на плоской пленке методом монокристалла
Рис. 4.7. Рентгенограмма, полученная вращением монокристалла комплекса гексаметилентетрамин - хлорное олово