<<
>>

Атомно-силовая микроскопия

В последнее время атомно-силовая микроскопия (ACM) является одним из интенсивно развиваемых направлений диагностики структур с линейными размерами порядка десятков нанометров и менее. Эти структуры могут проявлять свойства, отличные от свойств объемных материалов. C помощью ACM можно наблюдать и исследовать точечные и линейные дефекты. В работе [91] с помощью ACM авторы наблюдали образование пирамидальных островков за счет диффузионного массопереноса вещества с образованием лунки в местах выхода на поверхность дислокационной полупетли.

1.4.6

<< | >>
Источник: Иванова Александра Ивановна. Микроморфология поверхности и дислокационная структура крупногабаритных оптических кристаллов германия и парателлурита. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2015. 2015

Еще по теме Атомно-силовая микроскопия:

  1. 3.3 Сопоставление результатов по исследованию фрактальных свойств наноразмерных пленок золота, серебра: атомно-силовая и туннельная микроскопия
  2. 4.2 Исследование самополяризованного состояния и локальной поляризации тонких пленок ЦТС методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика.
  3. Компьютерное моделирование процесса взаимодействия зонда силового туннельного микроскопа с образцом на примере системы медь (зонд) - золото (образец)
  4. Глава 1. Современное состояние исследованийв области изучения морфологических характеристик наночастиц и электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец методами атомной, зондовой и туннельной микроскопии
  5. Глава 2. Технологические основы современных сканирующих зондовых микроскопов. Обзор основных методик туннельной микроскопии. Нанотехнологический комплекс «YMKA-02G»
  6. Сканирующая зондовая микроскопия
  7. Атомный ледокольный флот
  8. Атомно-слоевое осаждение
  9. Световая микроскопия
  10. Электронная микроскопия
  11. Оптическая микроскопия поверхности пленок
  12. 2.2.4 Растровая электронная микроскопия
  13. Мощные (силовые) диоды