Исследование корреляции наличия глубоких центров с транспортными характеристиками носителей заряда
Для того чтобы сделать полный анализ полученных результатов на исследованных образцах и установить роль тех или иных уровней и их влияние на детекторные характеристики, необходимо прежде всего провести идентификацию ловушек и установить их природу.
Необходимо заметить, что многими исследователями были проведены и проводятся множество экспериментов по измерениям дефектной структуры в детекторах CdTe и CdZnTe, тем не менее, окончательной схемы нет, и часто одни те же уровни получают различную интерпретацию. Можно сделать несколько выводов и предположений.Одним из основных требований к полупроводниковому детектору ядерного излучения является его высокое удельное сопротивление. Как известно, для создания полуизолирующих детекторов CdTe и CdZnTe используются технологии компенсации донорных и акцепторных примесей C участием глубоких, как правило, акцепторных уровней, таких как катионная вакансия VCd и антиструктурный дефект Tecd∙ В схеме самокоменсации принимают участие также так называемый А-центр - комплекс, состоящий из двухкратнозаряженного акцепторного центра
и мелкозалегающей
донорной примеси
Энергия термической активации
центра составляет 0.12-0.15 эВ относительно потолка валентной зоны. Практически на всех измеренных образцах пики, соответствующие захвату дырок на A-центры, не выявлены, возможно из-за затруднений, возникающих при измерении спектров ТРСГУ на более низких температурах 80-100К.
Из результатов измерений температурных зависимостей проводимости следует, что энергия активации проводимости исследованных образцов находится в диапазоне 0.78-0.9 эВ. Это свидетельствует об участии в процессе компенсации глубоких уровней, закрепляющих уровень Ферми в середине запрещенной зоны.
Учитывая некоторое изменение энергии активации уровней на образцах «Гиредмет» после термических воздействий,можно предположить, что они связаны со структурными дефектами. Высокая проводимость образца № 1 свидетельствует о нарушении условий
оптимальной компенсации дефектов при выращивании материала или при последующих термических обработках. Ход температурной зависимости проводимости образца указывает на наличие определяющей ловушки с энергией 0.32-0.33 эВ, по-видимому, связанной с антиструктурным дефектом Tecd [56].
Обработка спектров ТРСГУ также показала наличие ловушек с энергией Ev+ (0.19-0.23) эВ на всех измеренных образцах CdTe и CdZnTe. По-видимому, эти дырочные центры связаны с комплексами с участием катионных вакансий.
Как известно, одним из основных центров захвата дырок, является кадмиевая вакансия. Учитывая, что он может находиться как в одиночном состоянии, так и в составе донорно-акцепторных комплексов в нескольких зарядовых состояниях, его идентификация и определение ловушечных параметров вызывает трудности. Соответственно в литературе нельзя найти однозначной интерпретации результатов измерений. Анализ измерений на образцах CdTe и CdZnTe позволяет соотнести ловушку с энергией Ev+ (0.44- 0.46) эВ с сечением захвата IO'12-IO'14см2 с катионной вакансией в составе заряженного комплекса (наблюдается на образце № 2 «Гиредмет» и № 5 «Redlen»). В тоже время, одиночная катионная вакансия Vcd2(энергия залегания может предположительно находиться в диапазоне Ev+ (0.65- 0.83) эВ) наблюдается не во всех образцах, в том числе по причине того, что она может находиться в другой форме - в составе комплексов.
Дырочный центр со следующими параметрами-энергия Ev+ (0.91-0.94) эВ и сечение захвата IO'9-IO'11см2 трудно интерпретировать. Он наблюдается во всех измеренных CdZnTe образцах и нескомпенсированном образце № 1. Возможно, он определяет большие дырочные потери в детекторах. По крайней мере, этот центр с большим сечением захвата наблюдается на образцах с плохими дырочными транспортными параметрами.
Для определения и интерпретации электронных ловушек необходимы дополнительные исследования. В худшем образце по электронным транспортным характеристикам № 10 хорошо выделяется пик со следующими параметрами ловушек: энергия Ec-0.77 эВ и сечение захвата 10^12cm2и его можно соотнести с неидентифицированным центром Hi (по классификации [56]).
4.4.8
Еще по теме Исследование корреляции наличия глубоких центров с транспортными характеристиками носителей заряда:
- Исследование глубоких центров захвата и рекомбинации неравновесных носителей заряда в детекторах
- Лекция 3. Время жизни носителей заряда. Дрейфовое и диффузионное движение носителей заряда
- Исследование транспортных характеристик
- Влияние носителей заряда на сегнетоэлектрические свойства кристаллов (обзор экспериментальных работ)
- §1 Свободные носители заряда в КРС (КЯ)0 Гомеополярные структуры
- § 12 ИК поглощение света свободными носителями заряда в структурах с квантовыми ямами
- Исследование глубоких уровней и ловушек захвата и рекомбинации с помощью методик ТРСГУ и фотопроводимости
- Теория относительности подтвердила выводы философии относительно наличия глубокой связи между пространством и временем
- § 1. Криминалистическое исследование машинных носителей информации
- Моделирование процесса сбора заряда и влияния электрофизических характеристик на формирование спектра в детекторах
- Измерение транспортных и вольт-амперных характеристик образцов
- 1. Технические характеристики транспортного средства.
- Глава 3. Исследование взаимной корреляции двоичных последовательностей на основе разностных множеств типа Адамара