Измерение оптического пропускания в ИК области спектра

Одной из основных оптических характеристик кристаллов, входящей в ГОСТы, международные стандарты (ИСО), ТУ, а также используемыми в научно-технической литературе при описании исследований оптического качества материалов [14, 54, 113, 179], является коэффициент пропускания излучения, который определяется как:

где Io - интенсивность светового потока, падающего на кристалл, I - интенсивность света, выходящего из кристалла.

Измерения коэффициентов пропускания кристаллов германия производятся с помощью инфракрасных спектрофотометров или спектрометров. Как-правило, такие приборы измеряют коэффициенты 49

пропускания Γ(λ) почти во всем диапазоне прозрачности германия. В настоящей работе измерения проводились с помощью ИК-Фурье спектрометров Vertex-70 и Tensor 27.

На рисунках 2.2 и 2.3 приведены оптические схемы спектрометров.

Рис. 2.2. Оптическая схема прибора VERTEX 70. А - светодилетель; с указанием компонентов, В - диск оптического фильтра (IVU), C - диск апертуры, D - детектор (Dl - стандартный и D2 - опционный), E - окно кюветного отсека, F - источник света (MIR &NIR)

Рис. 2.3. Оптическая схема прибора TENSOR 27 с указанием компонентов: А

- ИК источник, В - Апертурный диск, C - Диск с фильтрами (I VU), D - Выходной порт, E - Светоделитель, F - Переключающее зеркало, G - Окно кюветного отсека, G’ - Дополнительное окно, H - Держатель образца, I - Детектор

2.2.2.2.