Оглавление
Введение...................................................................................................... 4
Глава 1. Обзор литературы............................................................................
101.1. Сегнетоэлектричество и пьезоэлектричество............................................. 10
1.1.1 Сегнетоэлектричество и пьезоэлектричество в кристаллах................ 10
1.1.2 Структура перовскита........................................................................... 10
1.1.3 Переход от объёмных материалов к тонкопленочным....................... 12
1.2 Методы получения тонких сегнетоэлектрических пленок......................... 12
1.2.1 Молекулярно-лучевая эпитаксия......................................................... 12
1.2.2 Осаждение распылением...................................................................... 13
1.2.3 Химическое осаждение из газовой фазы............................................. 16
1.2.4 Атомно-слоевое осаждение.................................................................. 17
1.2.5 Импульсное лазерное осаждение......................................................... 18
1.2.6 Рост из жидкой фазы............................................................................ 18
1.3 Диаграмма фазовых состояний твердых растворов цирконата-титаната
свинца.................................................................................................................. 19
1.4 Самополяризация в пленках сегнетоэлектриков................................. 24
1.5 Явление флексоэлектричества в тонкопленочных структурах................... 30
1.6 Температурные зависимости диэлектрической проницаемости и
диэлектрических потерь..................................................................................... 33
1.7 Использование метода ДОЭ для анализа сегнетоэлектрических пленок 39
Глава 2.
Объекты исследования и экспериментальные техники....... 462.1 Получение тонкопленочных конденсаторных структур Pt∕∏,TC∕Pt... 46
2.1.1 ВЧ-магнетронное распыление.............................................................. 46
2.1.2 Высокотемпературный отжиг.............................................................. 49
2.1.3 Нанесение контактных площадок........................................................ 49
2.2 Методы исследования электрофизических характеристик тонких
пленок................................................................................................................. 51
2.2.1 Измерение петель диэлектрического гистерезиса............................... 51
2.2.2 Измерение вольт-фарадных, частотных и температурных
з
зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь 54
2.3 Структурные исследования тонких пленок цирконата-титаната свинца 56
2.3.1 Рентгенодифракционный анализ.......................................................... 56
2.3.2 Исследования поверхности с помощью растрового электронного
микроскопа.......................................................................................................... 57
2.3.3 Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ)............................. 58
2.3.4 Электронно-зондовый микроанализ................................................... 60
2.3.5 Оптическая микроскопия поверхности пленок................................... 62
2.3.6 Сканирующая зондовая микроскопия................................................. 62
Глава 3. Результаты исследований фазового состояния, структуры и состава тонких пленок ЦТС....................................................................................................... 65
3.1 Влияние температуры отжига на фазовое состояние, микроструктуру и
состав тонких пленок ЦТС................................................................................. 65
3.2 Изменение свойств тонких пленок ЦТС при вариации давления рабочего
газа.......................................................................................................................
703.3 Фазовый анализ тонких пленок ЦТС.......................................................... 78
3.4 Температурные измерения диэлектрических характеристик тонких
пленок ЦТС......................................................................................................... 86
Глава 4. Исследования диэлектрических, пироэлектрических и пьезоэлектрических свойств тонких пленок ЦТС............................................................................ 88
4.1 Диэлектрические и пироэлектрические свойства........................................ 88
4.2 Исследование самополяризованного состояния и локальной поляризации
тонких пленок ЦТС методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика 97
Заключение................................................................................................ 107
Список литературы...................................................................................... 108
Еще по теме Оглавление:
- 2.11 Организация информации: структура, оглавление и указатели2.11.1 Создание и форматирование оглавлений
- 2.11.2 Текущее оглавление
- 9.1.1. Оглавление
- Оглавление:
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление:
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление
- Оглавление