<<
>>

Возможность аномально высокого поглощения излучения образцом

В ИК - области спектра металлы обычно отражают большую часть падающего излучения (так, чистая полированная поверхность меди, как показано выше, отражает на длине волны 10,6 мкм ~ 98,5%).

Однако, при определённых условиях возможно аномальное увеличение доли поглощённого излучения, вплоть до 100%.

Рисунок 6.11- Модель взаимодействия лазерного луча с шероховатой поверхностью металла. Периодическая структура, приводящая к резонансному преобразованию падающего излучения в ПЭВ, покрывает всю поверхность мишени. Излучение поляризовано в плоскости падения xz, направление штрихов решетки - вдоль оси у. Лазерный луч на поверхности имеет прямоугольную форму с размерами Xo?yo [382]

В работах [382, 385-388] предложена модель резонансного поглощения лазерного излучения поверхностью металла, на которой присутствуют периодические структуры (ПС), (рисунок 6.11). Это происходит благодаря интерференции падающего луча с

220 возбуждаемой им поверхностной электромагнитной волной (ПЭВ) в случае, когда рельеф поверхности благоприятствует этому процессу.

Показано, что при дифракции света на синусоидальных решетках с периодом порядка длины волны λ возможно проявление эффекта полного подавления зеркального отражения (ППЗО). Для этого необходимо, чтобы при фиксированном угле падения лазерного луча глубина рельефа поверхности и длина волны излучения были связаны некоторым оптимальным соотношением. Причем, если глубина рельефа поверхности близка к оптимальной, то в зависимости коэффициента зеркального отражения от параметров рельефа наблюдается один провал. Наличие провала обусловлено взаимодействием излучения с резонансно возбуждаемыми поверхностными электромагнитными волнами.

В работах [389, 390] показано, что провалы в коэффициенте зеркального отражения возможны и в случаях с более сложным периодическим рельефом поверхности.

Световой луч с поляризацией в плоскости падения направляется под углом θ из среды с диэлектрической проницаемостью ε0 = 1 (воздух) на шероховатую поверхность, которую можно представить в виде дифракционной решетки с одним периодом dи профилем z = h sin gx. В нашем случае угол 0 = 0. Металл имеет диэлектрическую проницаемость ε = ε = (п + Im)2(пит- оптические константы). Здесь h - амплитуда глубины решетки, независящая от координаты х, g=2π∕d - обратный вектор решетки, к = 2π∕λ - волновой вектор излучения. Величина периода dявляется резонансной для возбуждения ПЭВ падающим излучением.

В работе [382] получены выражения (6.2 - 6.4), определяющие зависимость поглощательной способности А, обусловленной диссипацией ПЭВ, как от глубины решетки h, так и от размеров облучаемого пятна х0 и мишени x1. Для упрощения расчетов размер мишени x1предполагается достаточно большим, что, собственно, и имело место в нашем случае. Тогда зависимостью А от x1можно пренебречь, то есть, наблюдается предельный случай, когда облучённая зона больше длины пробега ПЭВ по решетке (x0>>1/а)

221

где:- это оптимальная глубина решетки, при которой в случае больших размеров

пятна достигается практически полное поглощение падающего излучения

A0- поглощательная способность плоской металлической поверхности при θ=0oбез учёта влияния периодической структуры.

Подставляя в приведённые уравнения справочные данные по оптическим константам пит [387], рассчитаны, представленные в таблице 6.1, параметры решетки для медного образца при использованных в работе размерах образца и облучённой зоны.

Таблица 6.1 — Параметры A0, αt∣, L, h0и h*,рассчитанные для меди

Таким образом, оптимальная высота решетки для резонансного поглощения лазерного излучения составляет 10,3 нм.

На рисунке 6.9 видно, что шероховатость поверхности образца БрХ составляет ~ 360 нм, что значительно выше рассчитанной ранее высоты решётки, необходимой для 100% резонансного поглощения. Но если рассмотреть возможность 50% поглощения излучения, то высота необходимой для этого решетки составит примерно 40 нм. Участки с такой высотой присутствуют на поверхности образца (рисунок 6.10). Данный факт позволяет предположить, что в проведённом нами в эксперименте мог наблюдаться эффект резонансного поглощения излучения.

Эти данные позволяют оценить величину максимально возможной эффективности лазерного энерговклада Amaxповерхности с периодической структурой. Действительно, в этом случае, при одновременном выполнении условий:X0» l∕α(h) = 1/2 ad; (xi- x0) » l∕(2a); тогда

Таким образом показано, что, при одновременном выполнении условий (6.2 -

6.4), возможно достижение практически полного поглощения падающего излучения.

6.2.2.2

<< | >>
Источник: Рогалин Владимир Ефимович. Стойкость материалов силовой оптики к воздействию мощных импульсов излучения CO2- лазеров. Диссертация на соискание ученой степени доктора физико-математических наук. Тверь - 2015. 2015

Еще по теме Возможность аномально высокого поглощения излучения образцом:

  1. 2.3 Поглощение ИК - излучения в монокристаллах германия
  2. Поглощение излучения в материале детектора
  3. 7.5.3 Дискретные симметрии как возможная причина анизотропии реликтового излучения
  4. 3.6 Возможные механизмы потерь излучения СО2 - лазера при прохождении через прозрачную оптику. Обсуждение полученных результатов
  5. Ионизирующие излучения Общие сведения об ионизирующих излучениях. Источники ионизирующих излучений
  6. Особенность, связанная с ограниченными возможностями использования вузом эффекта масштаба и прямым использованием преимуществ высокого имиджа в ценообразовании.
  7. 7.5 О возможной связи неархимедовой геометрии с анизотропией реликтового излучения 7.5.1 Фрактальная геометрия распределения массы во Все-ленной
  8. Аномальные высказывания
  9. I. Возможность появления науки права только при наличности писаного права. Влияние юриспруденции на законы, как черта, предполагающая сравнительно высокую степень развития законодательства, с одной стороны, и образованности, с другой
  10. Доказательство от чисто аномального события
  11. Коэффициенты поглощения, рассеяния и ослабления
  12. Поглощение
  13. Отклонения от нормы (аномальность)
  14. Слияния и поглощения
  15. Неионизирующие электромагнитные поля и излучения Общие сведения о неионизирующих излучениях и полях. Источники электромагнитного поля