Переход от объёмных материалов к тонкопленочным
Большое число применений сегнетоэлектриков связано с использованием объемных керамических образцов, толщина которых составляла от 0,1 мм до 1 сантиметра. Эти образцы являются поликристаллическими, с характерным размером зерен 1-10 мкм.
На протяжении многих десятилетий они находили применение в качестве излучателей, приемников и датчиков. C бурным развитием микроэлектроники к функциональным элементам предъявлялись новые и более жесткие требования с точки зрения линейных размеров, меньшего потребления энергии, интеграции элементов с кремниевой микроэлектроникой. Тонкопленочные сегнетоэлектрики преодолевают эти ограничения и становятся платформой для современных приложений. Примером могут быть эпитаксиальные монокристаллические тонкие пленки, параметры решетки которых согласуются с параметрами подложки и могут выпускаться серийно при производстве микросхем. Кроме того, морфология доменов тонких пленок и, соответственно, сегнетоэлектрические свойства могут быть заранее рассчитаны и впоследствии реализованы посредством создания эпитаксиальных напряжений, варьирования толщины пленок, рода электродов, искусственных сверхрешеток и состава пленки [20,21].При переходе к тонкопленочным структурам возникает ряд проблем, связанных с появлением размерных эффектов. Их природа сильно зависит от электрических граничных условий, таких как экранирование заряда на электродах и деполяризующее поле, что может сказываться на стабильности сегнетоэлектрической фазы. Источники размерных эффектов рассмотрены в работе [22]. Критическая толщина тонких пленок составляет 6 атомных слоев, как заявляют авторы [23], опираясь на свои расчеты.
1.2
Еще по теме Переход от объёмных материалов к тонкопленочным:
- 3.3 Морфология объёмных и поверхностных повреждений оптических материалов, возникающих в результате воздействия
- Получение тонкопленочных конденсаторных структур
- Явление флексоэлектричества в тонкопленочных структурах
- 3.8.17 Объемные формулы
- Использование объемных ссылок
- Объемный заряд электронного газа
- Объемные дефекты
- Именование объемных диапазонов
- 4. Возведение зданий из объемных элементов
- Исследование объемной структуры офтальмоскопируемых объектов
- Морфология объёмных «лазерных» повреждений в ЩГК
- § 3.17. ЭЛЕКТРОННО-ДЫРОЧНЫЙ ПЕРЕХОД (п-р-ПЕРЕХОД)
- Переход количества в качество (ПЕРЕХОД)
- 1.3 Свойства оптических материалов для области спектра 10 мкм. Критерии для выбора оптических материалов мощных лазеров
- 2.3. Объемно-планировочные и конструктивные решения зданий и помещений.
- Установление ставок акциза на алкогольную продукцию с объемной долей этилового спирта свыше 9% за 1 л
- Статья 35. Переход права на земельный участок при переходе права собственности на здание, строение, сооружение
- А. Развитие института вещных прав при переходе к рынку. - В кн.: Гражданское право России при переходе к рынку.
-
Альтернативные научные исследования по физике -
Основы физики -
Физика конденсированного состояния -
-
Архитектура и строительство -
Безопасность жизнедеятельности -
Библиотечное дело -
Бизнес -
Биология -
Военные дисциплины -
География -
Геология -
Демография -
Диссертации России -
Естествознание -
Журналистика и СМИ -
Информатика, вычислительная техника и управление -
Искусствоведение -
История -
Культурология -
Литература -
Маркетинг -
Математика -
Медицина -
Менеджмент -
Педагогика -
Политология -
Право России -
Право України -
Промышленность -
Психология -
Реклама -
Религиоведение -
Социология -
Страхование -
Технические науки -
Учебный процесс -
Физика -
Философия -
Финансы -
Химия -
Художественные науки -
Экология -
Экономика -
Энергетика -
Юриспруденция -
Языкознание -