<<
>>

Переход от объёмных материалов к тонкопленочным

Большое число применений сегнетоэлектриков связано с использованием объемных керамических образцов, толщина которых составляла от 0,1 мм до 1 сантиметра. Эти образцы являются поликристаллическими, с характерным размером зерен 1-10 мкм.

На протяжении многих десятилетий они находили применение в качестве излучателей, приемников и датчиков. C бурным развитием микроэлектроники к функциональным элементам предъявлялись новые и более жесткие требования с точки зрения линейных размеров, меньшего потребления энергии, интеграции элементов с кремниевой микроэлектроникой. Тонкопленочные сегнетоэлектрики преодолевают эти ограничения и становятся платформой для современных приложений. Примером могут быть эпитаксиальные монокристаллические тонкие пленки, параметры решетки которых согласуются с параметрами подложки и могут выпускаться серийно при производстве микросхем. Кроме того, морфология доменов тонких пленок и, соответственно, сегнетоэлектрические свойства могут быть заранее рассчитаны и впоследствии реализованы посредством создания эпитаксиальных напряжений, варьирования толщины пленок, рода электродов, искусственных сверхрешеток и состава пленки [20,21].

При переходе к тонкопленочным структурам возникает ряд проблем, связанных с появлением размерных эффектов. Их природа сильно зависит от электрических граничных условий, таких как экранирование заряда на электродах и деполяризующее поле, что может сказываться на стабильности сегнетоэлектрической фазы. Источники размерных эффектов рассмотрены в работе [22]. Критическая толщина тонких пленок составляет 6 атомных слоев, как заявляют авторы [23], опираясь на свои расчеты.

1.2

<< | >>
Источник: Канарейкин Алексей Геннадьевич. Сегнетоэлектрические свойства наноструктурированных систем на основе цирконата-титаната свинца. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Санкт-Петербург - 2018. 2018

Еще по теме Переход от объёмных материалов к тонкопленочным:

  1. 3.3 Морфология объёмных и поверхностных повреждений оптических материалов, возникающих в результате воздействия
  2. Получение тонкопленочных конденсаторных структур
  3. Явление флексоэлектричества в тонкопленочных структурах
  4. 3.8.17 Объемные формулы
  5. Использование объемных ссылок
  6. Объемный заряд электронного газа
  7. Объемные дефекты
  8. Именование объемных диапазонов
  9. 4. Возведение зданий из объемных элементов
  10. Исследование объемной структуры офтальмоскопируемых объектов
  11. Морфология объёмных «лазерных» повреждений в ЩГК
  12. § 3.17. ЭЛЕКТРОННО-ДЫРОЧНЫЙ ПЕРЕХОД (п-р-ПЕРЕХОД)
  13. Переход количества в качество (ПЕРЕХОД)
  14. 1.3 Свойства оптических материалов для области спектра 10 мкм. Критерии для выбора оптических материалов мощных лазеров
  15. 2.3. Объемно-планировочные и конструктивные решения зданий и помещений.
  16. Установление ставок акциза на алкогольную продукцию с объемной долей этилового спирта свыше 9% за 1 л
  17. Статья 35. Переход права на земельный участок при переходе права собственности на здание, строение, сооружение
  18. А. Развитие института вещных прав при переходе к рынку. - В кн.: Гражданское право России при переходе к рынку.