ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ
Из приведенного литературного обзора видно, что структура и физические свойства тонких слоев ЦТС в значительной степени определяются технологическими условиями синтеза пленок и материала подложки (и нижнего электрода), в качестве которого, в силу привязки к современной кремниевой микроэлектронике, используются платинированные пластины
монокристаллического кремния.
Это приводит к тому, что реальные тонкие слои ЦТС (выращенные in-situ либо ex-situ) характеризуются поликристаллической перовскитовой структурой, развитой морфологией поверхности, возможными нановключениями несегнетоэлектрической фазы, в первую очередь, оксида свинца, локализованного как на интерфейсах тонкого слоя, так и в межкристаллитном пространстве. Практика показала, что микроструктура и фазовый состав тонких слоев ЦТС, их элементная однородность, и, как следствие, физико-химические свойства непосредственно зависят как от технологических условий их формирования, так и от качества кремниевой подложки со сформированными на ней функциональными подслоями.В этой связи анализ механизмов формирования (роста) фазы перовскита в подобных поликристаллических тонких пленках ЦТС, изучение взаимосвязи сегнетоэлектрических характеристик с их микрокристаллической структурой и составом, а также определение соотношения различных модификаций сегнетоэлектрических фаз в области морфотропной фазовой границы, в том числе моноклинной фазы, представляется актуальной темой экспериментальных исследований.
Таким образом, исследование «Сегнетоэлектрических свойств наноструктурированных систем на основе цирконата-титаната свинца» является актуальной научной задачей. Для ее решения необходимо:
1. Изучить механизмы формирования фазы перовскита в тонких поликристаллических пленках ЦТС вблизи МФГ на основе анализа элементного состава пленок и их микроструктуры на различных технологических этапах их
получения на платинированных подложках монокристаллического кремния Pt∕TiO2∕SiO2∕(lll)Si.
2. Провессти фазовый анализ тонких пленок ЦТС в районе МФГ в зависимости от давления рабочего газа и режимов высокотемпературного отжига.
3. Проанализировать диэлектрические и пьезоэлектрические параметры тонкопленочных сегнетоэлектрических конденсаторов на основе ЦТС и изучить связь этих параметров с кристаллической структурой и составом.
Еще по теме ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ:
- 11.1. Постановка задачи расчета затрат на противопожарную защиту как задачи многокритериальной оптимизации
- 15.Постановка задач математической физики. Начальные и граничные условия. Понятие о корректности задачи.
- 7.1 Постановка задачи
- 8.1. Постановка задачи
- 3.1. Постановка задачи
- 2.1 Постановка задачи
- Постановка задачи
- Постановка задачи
- 3.1 Постановка задачи
- 2.1 Постановка и математическая модель задачи
- Постановка задачи и алгоритм решения
- 8.5. Транспортная задача в сетевой постановке
- Постановка задачи и теоретические основы
- Постановка задачи и определение типа модели.
- Постановка задач исследования