Отраженное освещение поверхностей (метод зеркального поля)
Метод применяется для осмотра и изучения зон раздела оптических сред глаза. В конктактной коррекции данная методика освещения применима для осмотра поверхностей роговицы, в частности, эпителия и эндотелия.
Порядок действий:
- установите угол 60° между щелевой лампой и микроскопом
- световой луч имеет форму параллелепипеда (ширина 3-4 мм)
- перемещайте ручку осветителя до тех пор, пока не появится рефлекс на исследуемой поверхности
- помните: угол отражения равен углу падения!
Наблюдение:
- при большом увеличении можно увидеть отдельные клетки эндотелия (например, полимегатизм) и их отек, преципитаты, оценить качество поверхности эндотелия (гладкость)
- мельчайшие неровности эпителия, отек
- стабильность слезной пленки, качество липидного слоя, включения
3.7.
Еще по теме Отраженное освещение поверхностей (метод зеркального поля):
- Зеркальное отражение*
- 2.6 Влияние поверхностных дефектов полированной поверхности меди на коэффициент отражения в ИК - области
- Методы освещения
- Метод бокового освещения
- Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ)
- Исследование площади поверхности среза численными методами
- Определение поля зрения ориентировочным методом
- Зеркальное движение
- Зеркальные формы деятельности
- Зеркальное представление
- Зеркальное восприятие
- 7.4 р-адическая квантовая теория поля 7.4.1 р-Адическая теория поля и евклидова теория поля
- Глава 3. Исследование морфологии рельефа, фрактальных свойств поверхности и электрических характеристик контакта зонд-образец для наноразмерных металлических пленок на диэлектрических подложках методом сканирующей туннельной микроскопии