<<
>>

Исследование электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец

Туннельный микроскоп в режиме сканирующей туннельной спектроскопии позволяет исследовать электронные свойства образца. В частности, туннельный микроскоп «УМКА - 02G» (и его модификации) даёт возможность получать локальные электронные характеристики с распределением по поверхности.

Это открывает широкие возможности применения данного метода для многих задач в наноэлектронике.

В статье [90] исследуются процессы образования наночастиц золота и серебра в коллоидных растворах. Все нанокомпозиты, представленные в работе, имеют нелинейные ВАХ, их форма зависит от природы подложки и от состава металлополимерной композиции. Для наночастиц золота наблюдается S-образная вольт-амперная характеристика. К тому же на данных BAX присутствуют участки отрицательного дифференциального сопротивления, и поэтому они могут использоваться для создания разных функциональных устройств и изделий, таких, как транзисторы, генераторы высокочастотного излучения, логические переключатели и т.д. У всех поверхностей данного вещества ширина запрещающей зоны стремится к нулю. В отличие же от наночастиц золота, наночастицы серебра имеют ширину запрещающей зоны порядка 0,5-0,7 эВ, что может быть связано с наличием оксидной плёнки на поверхности серебра, которая в случае золота отсутствует.

В случае измерения BAX полимерных слоёв, в которых отсутствуют наночастицы серебра, нелинейность обусловлена их туннельной проводимостью. В случае тока с ограниченным пространственным зарядом BAX удовлетворительно распрямляется, чего нельзя наблюдать при обработке представленных BAX в координатах механизмов Пула-Френкеля. Авторами была замечена обратная зависимость величины туннельного тока от толщины нанокомпозитного слоя. Также была обнаружена неоднородность электрических свойств, которая может объясняться локальными химическими и локальными структурными факторами.

Туннелирование электронов в системе металл - диэлектрик - металл составляют результаты измерений электропроводности.

Но латеральная электропроводность нанокомпозита на металлической подложке не наблюдается. Следовательно, и механизмы переноса заряда в этих двух случаях также должны различаться. Таким образом, эффективный перенос заряда происходит в материалах, которые по всем признакам можно отнести к изоляторам. Обратная зависимость между величиной туннельного тока и толщиной нанокомпозитного слоя показывает, что основную роль в этом процессе играет толщина слоя. S- образная форма BAX указывает на образование электронных состояний в запрещенной зоне нанокомпозитного слоя, через который может происходить туннелирование электронов.

При помощи сканирующего туннельного микроскопа в работе [91] были получены вольт-амперные характеристики углеродных нанотрубок. Предсказано, что углеродные нанотрубки обладают металлическими и полупроводниковыми свойствами в зависимости от их диаметра и хиральности. Из полученных в работе данных авторами сделан вывод о том, что углеродные нанотрубки с диаметром от 2,0 до 5,1 нм имеют металлическую плотность состояний. Также авторами наблюдались листы графена, которые имеют приблизительно 4 слоя графита в толщину.

Использование полупроводниковых нанонитей для оптоэлектроники требует оценки их вольт-амперных характеристик, поэтому в [92] также используя туннельный микроскоп, определялись вольт-амперные характеристики индивидуально-выращенных нанонитей. Также были сформированы омические контакты на InPи InAsнанонитях без какой-либо обработки образца с последующей количественной оценкой зависимости диаметра от вольт-амперной характеристики. А в [93] с помощью BAX анализировались свойства микроконтактов TiB2в нанометровом диапазоне. В ходе эксперимента сделаны выводы о том, что микроконтакты TiB2могут поддерживать напряжение от 0,1 до 1 В, прежде чем начнётся процесс плавления. Данные экспериментальные результаты очень хорошо согласуются с теоретической моделью.

В работе [94] методами СЗМ исследовалась проводимость зёрен сегнетоэлектрических плёнок Pb(Zr-Ti)Oi (PZT), для которых наблюдаются спонтанная поляризация и высокие пьезоэлектрические коэффициенты.

Такие тонкие плёнки представляют интерес для использования их в микроэлектронике, в частности в сенсорных приборах, но существует проблема утечки токов, которую и позволяет решить представленный в работе метод. Авторами показано, что проводимость в поликристаллических плёнках такого рода выше на границе зёрен, в эпитаксиальных же плёнках ток течёт по всем зёрнам одинаково. В работе была определено значение коэрцитивного поля отдельного зерна.

Органические фотоэлектрические агрегаты используют поверхностно- активные термически осаждённые металлические наночастицы, ускоряющие абсорбцию. Такие устройства были произведены авторами работы [95]. Характеристики данных агрегатов были получены различными методами, включая вольт-амперную характеристику, атомно-силовую микроскопию, сканирующую электронную микроскопию, спектроскопию и оптическую спектроскопию. Результаты вольт-амперных характеристик в дальнейшем были проанализированы при помощи модели простой схемы со сосредоточенными постоянными. Авторами показано, что наночастицы способствуют повышению абсорбции, при этом они испытывают воздействие от высокой рекомбинации, которая ведёт к понижению производительности. Агрегаты, расположенные близко к электродам, имеют наивысшую рекомбинацию. Слоистость наночастиц в активных слоях доказывает полезность в понижении рекомбинации и создании хорошо функционирующих агрегатов. В работе посредством термического испарения были подготовлены наночастицы. Тонкий слой испарённого вещества формировал островки, которые, в свою очередь, формировали наночастицы островного типа. Таким испарением получают однотипные слои хорошо дисперсированных наночастиц золота и серебра (в работе выполнены исследования только для наночастиц серебра). Вследствие поверхностного плазмонного резонанса наночастицы имели пики с высотой около 470° нм, которые не сглаживались даже при встраивании их в РЗНТ:РСВМ устройства.

Такие наночастицы помогают увеличивать абсорбцию солнечных панелей, но оказывают негативное влияние на восстановление.

Было найдено, что самое низкое восстановление проявляют наночастицы, помещённые между слоями прибора РЗНТ:РСВМ. Самое плохое восстановление получалось, когда наночастицы серебра были расположены напротив электродов из оксида индия и олова, потому что серебро не способно с ним нормально выстроиться.

Авторами работы [96] были проведены исследования вольт-амперных характеристик плёнок углеродных нанотрубок (УНТ). Образцы Ag/УНТ/ Agбыли получены электрохимическим способом и осаждением плёнок из суспензии. На рис. 13 представлены вольт-амперные характеристики изучаемых образцов.

Рис. 13. Вольт-амперные характеристики углеродных нанотрубок, полученных электрохимическим методом (1) и осаждением из суспензии (2) [96].

Из рис. 13 видно, что BAX образца, который был получен электрохимическим методом, является ассиметричной (коэффициент выпрямления равен 3), кривая BAX образца, полученного осаждением из суспензии, является симметричной. Присутствие выпрямляющейся BAX авторы связывают с электромиграцией ионов Agс электрода в плёнку, наличием примесей в материалах, а также с электромиграцией и ориентацией частиц

нанотрубок как диполей. Таким образом, исследователями были получены образцы, которые подходят для изготовления диодов.

Авторами работы [97] рассмотрена возможность моделирования атомно­силового микроскопа при условии основным параметров формирования сигнала. Очень важна на практике задача восстановления сигнала в ACM при зондировании по известному сигналу. Такая задача может быть решена при помощи интегрального уравнения Вольтерры 2-го рода:

Данное уравнение решается численными методами.

Исследование BAX позволяет, в частности, фиксировать фазовый переход 2-го рода [98]. В данной работе исследовались электрофизические свойства сверхтонких жидких кристаллов. Полученные BAX в области напряжений U = +0,6 мВ (измерения на постоянном токе) носят практически линейный характер даже при изменении температуры, нелинейность BAX проявляется при исследовании образцов на переменном токе частотой 10 кГц и в области напряжений [7 = ±1B даже в более узком температурном интервале, чем для случая измерений на постоянном токе.

1.4.

<< | >>
Источник: Антонов Александр Сергеевич. МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ. ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2017. 2017

Еще по теме Исследование электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец:

  1. Глава 1. Современное состояние исследованийв области изучения морфологических характеристик наночастиц и электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец методами атомной, зондовой и туннельной микроскопии
  2. Глава 3. Исследование морфологии рельефа, фрактальных свойств поверхности и электрических характеристик контакта зонд-образец для наноразмерных металлических пленок на диэлектрических подложках методом сканирующей туннельной микроскопии
  3. О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств контакта зонд-образец с помощью сканирующего туннельного микроскопа
  4. Компьютерное моделирование процесса взаимодействия зонда силового туннельного микроскопа с образцом на примере системы медь (зонд) - золото (образец)
  5. Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта вольфрам - золото
  6. Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта вольфрам - серебро
  7. Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта вольфрам - хром
  8. Электрический ток, электрические сети, электроустановки как источники опасности поражения электрическим током Источники повышенной опасности электротравматизма
  9. Энергетические характеристики электрических полей
  10. 3.3 Сопоставление результатов по исследованию фрактальных свойств наноразмерных пленок золота, серебра: атомно-силовая и туннельная микроскопия
  11. Сравнение теоретических и экспериментальных исследований удельного расхода электрической энергии