<<
>>

Оценка размерного и температурного интервала штатного функционирования сканирующего туннельного микроскопа для изучения отдельных участков поверхности

Результаты, представляемые в данном пункте диссертации, опубликованы нами в работах [153,154,176,177]. На рис. 34 соответственно представлены размерные зависимости относительного понижения температуры плавления ΔT(r) = Tι' -Tm(r) (Т* - макроскопическое значение температуры плавления), полученные на основе анализа калорических кривых потенциальной части внутренней энергии для нанокластеров золота и меди различного размера.

Рис. 34. Размерные зависимости ΔΓ(r) для нанокластеров золота (кривая 1), меди (кривая 2). Макроскопические значения температур плавления T^1 = 1331 К, Tcιι = 1356/Г взяты из [178].

Выбор аргумента N ui(или фактически соответствует Rc1) связан с тем, что согласно, например, данным работы [179,180] соответствующие размерные

зависимости температуры плавления могут иметь нелинейный характер при рассмотрении зависимостей типа Tm(n ), в то время как формула Томсона [181] предсказывает линейную зависимость.

Заметим, что представленные на рис. 34 зависимости позволяют сделать вывод о существенном изменении угла наклона при /V1"'5> 5, что по размерам системы фактически соответствует размеру острия зонда, что на качественном уровне подтверждает концепцию возможного лавинообразного процесса термического расширения, приводящего к переносу вещества зонда на образец и наоборот.

Особый интерес представляет собой исследование удельной избыточной поверхностной энергии: размерный эффект в данном случае также может влиять на возможность взаимодействия вещества зонда и образца (коалесценция, физический перенос вещества от зонда на образец). На основе вычисленных значений потенциальной части внутренней энергии кластеров и оценок для энергии эквивалентного количества атомов находящихся в массивной фазе, была рассчитана избыточная энергия Ψ изучаемых систем.

Согласно [182], для кластера, состоящего из Nатомов, избыточная энергия Ψ может быть рассчитана по формуле

где U0(У) - полная энергия кластера, состоящего из Nатомов, Utot- энергия того же числа атомов в фазе сравнения, в качестве которой в данном случае может рассматриваться массивная металлическая фаза (Utot = NU1, U1- энергия в расчете на один атом массивной фазы). Для расчетов по формуле (2.6) в качестве U0(N) была использована средняя энергия равновесного состояния системы. Чтобы определить значение Utot,мы использовали среднюю энергию атомов кластера, находящихся в центре моделированной частицы. Конкретизация радиуса малого объекта позволяет ввести в рассмотрение удельную избыточную поверхностную энергию ε(R) = xV∕4πR2(соответствующие размерные зависимости для нанокластеров золота, меди и алюминия представлены на рис. 35), которая при

OKдля эквимолекулярной разделяющей поверхности будет совпадать с энергетическим поверхностным натяжением /(7?), определяемым как работа образования малого объекта в расчете на единицу площади выбранной поверхности. Интересно, что в данном случае именно для меди (материал зонда) размерный эффект для удельной избыточной поверхностной энергии в области до 1 нм достаточно сильно выражен, что также может служить причиной разрушения зонда в процессе взаимодействия с образцом; знание температурных производных для удельной избыточной поверхностной энергии позволяет прогнозировать ее значения в размерном и температурном интервале, соответствующем выбранному технологическому режиму.

Рис. 35. Размерная зависимость удельной избыточной поверхностной энергии для кластеров золота (кривая 1), меди (кривая 2) при температуре T = 586K.

Сплошная кривая - аппроксимация расчетных данных. Экспериментальные данные

Координатавыбрана по причине того, что удельная избыточная поверхностная энергия, связанная с поверхностным натяжением, которое в таких

по координатах является линейной функцией согласно формуле Толмена [185].

Исследования размерных зависимостей относительного понижения температуры плавления находят свое практическое применение в процессах как спонтанной коалесценции [186], так и технологической нанопайки [187] (процессы, лежащие в основе нанопайки, растекание и кристаллизация малых капель представляют интерес и для молекулярной электроники, а также для технологии нанокомпозиционных материалов), а исследование размерных зависимостей удельной избыточной поверхностной энергии позволяет, в частности, исследовать условия механической стабильности наночастиц [188]. Важным технологическим аспектом необходимости учета размерных зависимостей термодинамических характеристик (например, удельной избыточной поверхностной энергии) является возможность их влияния на прецизионные измерения, например, в туннельной микроскопии. В частности, C использованием CTM возможно проводить исследования локальной электронной структуры проводящих поверхностей с атомных разрешением.

Как мы уже отмечали выше, по-видимому, результаты работы [10] по моделированию методом Монте-Карло эволюции сферической нанометровой конфигурации, помещённой между поверхностью твердого тела, можно считать пионерскими. В частности, для описания взаимодействия подложки использовался приведенный потенциал Леннард-Джонса, с параметрами для оценки значений εslи aslсогласно правилу смещения Лоренца - Бертло: В качестве острия выступала цепочка из И атомов, основными параметрами нанометровой конфигурации были приведенная плотностьи радиус нанометровой конфигурации R0.

При этом

предполагалось, что в начальный момент моделирования острие и микрокапля не только соприкасаются, но и острие частично погружено в нее. Результаты, изложенные в [10], предсказывают возможность частичного переноса микрокапли на подложку твердого тела при R0≤l,9alи образования высокоупорядоченной моно- или бимолекулярной островковой пленки (примерно в половине случаев из

серии моделирования целостность микрокапли нарушается). При этом отмечено, что острие может служить деструктивным для микрокапли фактором (в отдельных случаях приисходная нанометровая конфигурация

практически сразу хаотически распадается), так и способствовать компактности контакта между микрокаплей и подложкой, т.е. препятствовать ее растеканию. Таким образом, результаты проведенных нами исследований тем же методом (методом Монте-Карло), но с использованием многочастичного потенциала Гупта для реальных систем коррелируют на качественном уровне с результатами работы [10], имеющей при этом ряд существенных недостатков, в частности по конфигурации исследованной системы и описанию межмолекулярного взаимодействия в ней.

В заключение необходимо отметить, что при моделировании наночастиц металлов в различных технологических процессах должны учитываться температурные режимы функционирования рабочих элементов, их поверхностные характеристики, возможность возникновения спонтанных процессов, в частности коалесценции. Отметим также, что описанные выше эффекты не только могут влиять на протекание спонтанных процессов (коалесценции) при формировании отдельных функциональных элементов, используемых в частности, в наноэлектронике, но и приводить к искажениям в измеряемых величинах, что подтверждается на примере экспериментальных исследованиях с помощью CTM [166,167,171,172]. Теоретические результаты нашей работы [176], теоретические результаты и данные, полученные в результате моделирования двумя альтернативными подходами: методом Монте- Карло и методом молекулярной динамики (сотрудниками научной группы проф.

В.М. Самсонова [150,157,187-191]), а также результаты экспериментальных работ [192,193], посвященных исследованию плавления наночастиц золота и меди, подтверждают возможность описанного в данной главе поведения острия и образца в CTM экспериментах.

Для сложного рельефа поверхности результаты, полученные в процессе моделирования доложены в работе [194].

Таким образом, обобщая результаты, изложенные в и. 2.4., можно сделать сформулировать следующие выводы:

1. Методом Монте-Карло с использованием многочастичного потенциала Гупта проведено моделирование взаимодействия системы зонд (медь) - образец (золото) при термическом расширении в зависимости от расстояния между ними. Моделирование проведено для двух конфигураций острия: стержень и конус;

2. Установлено, что тепловое расширение острия может достигать величин, сравнимых с шириной туннельного промежутка, и возможно возникновение лавинообразного процесса теплового расширения острия, приводящего к возникновению контакта между острием зонда и поверхностью образца. В моделируемых нами случаях изменение температуры для конфигурации конус составляет 15076, а для случая стержня - УПК, что находится в хорошем согласии с имеющимися экспериментальными данными и теоретическими оценками;

3. Проведена оценка размерного и температурного интервалов штатного функционирования сканирующего туннельного микроскопа для изучения отдельных участков поверхности. На примере наночастиц золота и меди различного размера установлено, что размерное изменение температуры плавления может достигать 400 -900/6 (при увеличении размера системы в координатах TV 1/3 с 0,1 до 0,27), при этом удельная избыточная поверхностная энергия изменяется на 300-500 мДж/м2 (при увеличении размера системы в координатах Rfс 0,06-IO10м1 до 0,18-IO10м1).

<< | >>
Источник: Антонов Александр Сергеевич. МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ. ДИССЕРТАЦИЯ на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2017. 2017

Еще по теме Оценка размерного и температурного интервала штатного функционирования сканирующего туннельного микроскопа для изучения отдельных участков поверхности:

  1. О проведении компьютерного эксперимента по моделированию взаимодействия зонда сканирующего микроскопа с образцом и оценка размерного и температурного диапазона для штатного функционирования
  2. О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств контакта зонд-образец с помощью сканирующего туннельного микроскопа
  3. Глава 3. Исследование морфологии рельефа, фрактальных свойств поверхности и электрических характеристик контакта зонд-образец для наноразмерных металлических пленок на диэлектрических подложках методом сканирующей туннельной микроскопии
  4. Глава 2. Технологические основы современных сканирующих зондовых микроскопов. Обзор основных методик туннельной микроскопии. Нанотехнологический комплекс «YMKA-02G»
  5. 1.5 Об обработке изображений, полученных сканирующим туннельным микроскопом «УМКА - 02G»
  6. Глава 1. Современное состояние исследованийв области изучения морфологических характеристик наночастиц и электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец методами атомной, зондовой и туннельной микроскопии
  7. Сканирующая зондовая микроскопия
  8. 3.3 Сопоставление результатов по исследованию фрактальных свойств наноразмерных пленок золота, серебра: атомно-силовая и туннельная микроскопия
  9. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов. Метод постоянного тока и метод постоянной высоты
  10. Исследования поверхности с помощью растрового электронного микроскопа
  11. Оптическая микроскопия поверхности пленок
  12. Компьютерное моделирование процесса взаимодействия зонда силового туннельного микроскопа с образцом на примере системы медь (зонд) - золото (образец)
  13. Оценка интервала QT при ХМ
  14. Статья 57. Возмещение убытков при изъятии земельных участков для государственных или муниципальных нужд, ухудшении качества земель, временном занятии земельных участков, ограничении прав собственников земельных участков, землепользователей, землевладельцев и арендаторов земельных участков