Исследования поверхности с помощью растрового электронного микроскопа
Для исследования структуры поверхности применялся метод растровой электронной микроскопии. Результаты, представленные в данной работе, получены на сканирующем электронном микроскопе фирмы Zeiss EVO-40 с вольфрамовым катодом.
Исследования проводились в условиях прямого падения зондирующего луча при ускоряющем напряжении 25 кВ с вариацией тока зонда. Изображения, полученные с помощью детектора вторичных электронов, дают представление о топографии поверхности, а контраст по атомному номеру мы можем наблюдать посредством детектора обратно отраженных электронов. Комбинированное использование двух детекторов позволяет выявить реальный рельеф пленки, отфильтровывая инородные образования на поверхности по композиционному контрасту. Применительно к исследованию структуры поверхности пленок ЦТС выигрышным является режим отбора вторичных электронов, которые генерируются с большей глубины, давая более детальную и информативную информацию о приповерхностном слое исследуемой структуры. На использованном в работе электронном микроскопе установлены детекторвторичных электронов конструкции Эверхарта-Торнли и четырехсегментный кремниевый детектор вторичных электронов.
1.3.2
Еще по теме Исследования поверхности с помощью растрового электронного микроскопа:
- 2.2.4 Растровая электронная микроскопия
- Исследования микроструктуры на просвечивающем электронном микроскопе
- Глава 3. Исследование морфологии рельефа, фрактальных свойств поверхности и электрических характеристик контакта зонд-образец для наноразмерных металлических пленок на диэлектрических подложках методом сканирующей туннельной микроскопии
- Оптическая микроскопия поверхности пленок
- Электронная микроскопия
- Просвечивающая электронная микроскопия
- Просвечивающая электронная микроскопия (ТЁМ) и технология фокусированного ионного пучка
- Оценка размерного и температурного интервала штатного функционирования сканирующего туннельного микроскопа для изучения отдельных участков поверхности
- О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств контакта зонд-образец с помощью сканирующего туннельного микроскопа
- 3.3. Очистка стенок теплообменной поверхности от отложений в котлах малой производительности с помощью СО2
- 3.3 Сопоставление результатов по исследованию фрактальных свойств наноразмерных пленок золота, серебра: атомно-силовая и туннельная микроскопия
- 4.2 Исследование самополяризованного состояния и локальной поляризации тонких пленок ЦТС методом силовой микроскопии пьезоэлектрического отклика.
- Исследование площади поверхности среза численными методами
- Криминалистическое исследование электронных документов
-
Альтернативные научные исследования по физике -
Основы физики -
Физика конденсированного состояния -
-
Архитектура и строительство -
Безопасность жизнедеятельности -
Библиотечное дело -
Бизнес -
Биология -
Военные дисциплины -
География -
Геология -
Демография -
Диссертации России -
Естествознание -
Журналистика и СМИ -
Информатика, вычислительная техника и управление -
Искусствоведение -
История -
Конфликтология -
Культурология -
Литература -
Маркетинг -
Математика -
Медицина -
Менеджмент -
Педагогика -
Политология -
Право России -
Право України -
Промышленность -
Психология -
Реклама -
Религиоведение -
Социология -
Страхование -
Технические науки -
Учебный процесс -
Физика -
Философия -
Финансы -
Химия -
Художественные науки -
Экология -
Экономика -
Энергетика -
Юриспруденция -
Языкознание -