Исследование алгоритмов идентификации с применением FSpice- моделей R-C-NR ЯЭФП
Для того чтобы количественно и качественно оценить основные характеристики разработанных алгоритмов идентификации проведем серию имитационных экспериментов «от обратного». Смоделируем в программе схемотехнического моделирования с помощью PSpice-моделей R-C-NR ЯЭФП с конкретными значениями параметров и используем их ЧХ в качестве целевых и контрольных функций в программном модуле идентификации, а начальное приближение параметров будем заведомо задавать с некоторым отклонением δот истинных значений.
Для объективности выберем случайным образом три R-C-NR ЯЭФП с различными параметрами (таблица 3.3), но при этом реализуемых с помощью существующих технологий.Таблица 3 3 - Параметры трех экспериментальных PSpice-моделей R-C-NR ЯЭФП
| № | Параметр | R-C-NR ЯЭФП №1 | R-C-NR ЯЭФП №2 | R-C-NR ЯЭФП №3 |
| 1 | Сопротивление верхнего резистивного слоя R, кОм | 5 | 100 | 20 |
| 2 | Коэффициент N,определяющий отношение сопротивлений нижнего и верхнего резистивных слоёв | 4 | 2 | 0,25 |
| 3 | Емкость между резистивными СЛОЯМИ С, нФ | 10 | 0,1 | 100 |
| 4 | Сопротивление потерь активной МОЩНОСТИ Гр, параллельное ёмкости С, ГОм | 1 | 0,5 | 2 |
| 5 | Коэффициент G,определяющий сопротивление потерь активной мощности, последовательное ёмкости C | IO'5 | 5-Ю"4 | 10^4 |
| 6 | Шунтирующее сопротивление обкладок r⅛, Ом | 50 | 1 | 10 |
| 7 | Длина концевого БКЭ L∣i-,нормированная относительно единичной длины Lвсей структуры | 0,03 | 0,05 | 0,1 |
| 8 | Коэффициент формы Кф, определяющий отношение длины R-C-NR ЯЭФП к его ширине | 10 | 20 | 5 |
Исследуем эффективность каждого алгоритма идентификации. Для этого найдем зависимости количества итераций, необходимых для выполнения условий (3.36), от
близости начального приближения к оптимуму.
Методика количественной оценки этих зависимостей заключается в следующем:1. Выбираем один из алгоритмов идентификации.
2. Выбираем один из трех R-C-NR ЯЭФП.
3. Все параметры начального приближения изменяем одновременно на величину отклонения
Еще по теме Исследование алгоритмов идентификации с применением FSpice- моделей R-C-NR ЯЭФП:
- Программа идентификации R-C-NR ЯЭФП и исследование алгоритмов идентификации на основе опытных образцов ЯЭФП
- Апробация и количественная оценка методик идентификации на основе опытных образцов R-C-NR ЯЭФП
- Общая концепция процесса идентификации параметров ЯЭФП
- 3.3.1 Исследование регуляризнрующих свойств алгоритма при отсутствии ошибок модели движения
- 3.5.3 Исследование регуляризирующего алгоритма при ошибках модели геопотенциала
- Параметрическая идентификация R-C-NR ЯЭФП
- Разработка алгоритма анализа массива ЯЭФП
- Модернизированный метод градиентного спуска параметрической идентификации R-C-NR ЯЭФП
- Глава 3. Разработка математической модели физических процессов в неупорядоченных полупроводниках структуры GST -225 и моделей массива ЯЭФП
- Оценка корректности математической модели ЯЭФП
- 4.3. Оценка качества алгоритма идентификации состояния сцены на основе энтропийого критерия
- 4.2. Алгоритм идентификации состояния сцены по большему количеству пикселей в пределах апертуры