Толщина покрытия
Основные характеристики наносимых покрытий характеризуются толщиной полученного покрытия, прочностью сцепления, сплошностью поверхностного слоя и т.д.
Толщина покрытия определялась методами: микроскопическим, записью профилогиаммы поверхности переходной зоны «металл - покрытие» и весовым (см.
гл. 1).Определение толщины покрытия микроскопическим методом производилось путем фотографирования шлифа покрытого образца на металлографическом микроскопе МКМ-8М. Так как в процессе приготовления шлифа покрытие, нанесенное на грань, перпендикулярную шлифу, размазывается, была разработана методика обработки образцов после приготовления шлифа. Для этой цели использовались образцы прямоугольной формы. После приготовления
шлифа образцы закреплялись в специальной оправке таким образом, что обработке подвергалась лишь сторона, перпендикулярная шлифу.
Методика определения толщины покрытия включает следующие этапы: образцы закреплялись в специальной оправке таким образом, что половина плоскости образца была закрыта. Обработке подвергалась только открытая часть образца. Запись профилограммы переходной зоны «металл - покрытие» производилась на профилографе - профилометре модели 201 завода «Калибр». Этот метод является также весьма трудоемким и позволяет определять толщину покрытия только на специальных образцах.
Рис. 2.13. Оборудование: а - сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator (NT-MDT); б - 3D визуализация
Для исследований микро/нанопрофиля поверхности был использован сканирующий зондовый микроскоп Nanoeducator (NT-MDT) (рис. 2.13, а), позволяющий реализовать различные методы измерений туннельной и полуконтактной атомно-силовой микроскопией, получить 3D визуализацию изображения поверхностного слоя (рис. 2.13, б).
Сущность весового метода (ГОСТ 3003-68) состоит в том, что толщина покрытия определяется по разности веса образца или детали до и после нанесения покрытия. Этот метод применяется для определения средней толщины покрытия на небольших деталях простого профиля. Взвешивание производилось на
аналитических весах с точностью 0,2 мг. Образцы исходные и покрытые перед взвешиванием выдерживались в эксикаторе.
Средняя толщина покрытия рассчитывалась по формуле
где q1масса детали после покрытия; q2масса детали до покрытия, г; 5 - поверхность детали, см2 ; у - удельная масса покрытия.