<<
>>

Методика диэлектрических измерений

Для измерения комплексной диэлектрической проницаемости образцов использовались цифровые измеритель импеданса £7-25. Измеритель имми­танса цифровой Е7-25[164] позволяет проводить измерения в частотном диапазоне 25 Гц - 1 МГц с уровнем измерительного сигнала 40 мВ - 1 В.

Диапазоны измерения проводимости: 10'π- 10 См; модуля комплексного со­противления: IO'5- IO9Ом; угла фазового сдвига: -180° - +180°; индуктивно­сти: IO'11- IO4Гн; ёмкости: 10'lr,- 1 Ф; тангенса диэлектрических потерь: 10'4- IO4. Средняя погрешность прибора составляет 0.15 %. Особенностью El- 25 является возможность его использования для измерения параметров нели­нейных объектов. В приборе предусмотрены режимы низкого уровня сигнала и возможность подачи смещающего постоянного напряжения в пределах: 0 - 60 В. Для повышения точности предусмотрен режим усреднения за 10 и 100

одиночных измерений. Для сопряжения с компьютером Е1-25 имеет интер­фейс USB 2.0.

Измерение температуры осуществлялось с использованием электрон­ных термометров: CENTER-304 [165] или ГС-6621 [166].

CENTER-304имеет цену деления 0.1 град и скоростью измерения 0.33 изм/с. Использование хромель-алюмелевой термопары позволяет проводить измерение температуры в широком диапазоне от 73 К до 1643 К с базовой погрешностью ± 0.2 %. В процессе измерений прибор позволяет автоматиче­ски учитывать температуру окружающей среды. Сопряжение с компьютером осуществляется через C

<< | >>
Источник: Антонов Антон Анатольевич. ИССЛЕДОВАНИЕ КОМПОЗИТОВ C ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ И МАГНИТНЫМ УПОРЯДОЧЕНИЕМ МЕТОДОМ НЕЛИНЕЙНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Благовещенск - 2017. 2017

Еще по теме Методика диэлектрических измерений:

  1. Методика измерений диэлектрических свойств
  2. Измерение вольт-фарадных, частотных и температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь
  3. Измерения диэлектрической проницаемости.
  4. Измерение петель диэлектрического гистерезиса
  5. Температурные измерения диэлектрических характеристик тонких пленок ЦТС
  6. Методика исследования сегнетоэлектрических материалов методом нелинейной диэлектрической спектроскопии
  7. Методика получения петель диэлектрического гистерезиса
  8. Измерение диэлектрической проницаемости с помощью измерителя иммитанса Е7-20 и фазочувствительного измерителя Вектор-175
  9. Методика измерений
  10. 2.1 Методика измерений
  11. Методика антропометрических измерений
  12. Методики измерения пьезоэлектрических и упругих характеристик
  13. Температурные зависимости диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь
  14. 19. Проективные методики направлены на измерение свойств личности и особенностей интеллекта.