<<
>>

Методика измерений диэлектрических свойств

Для измерения комплексной диэлектрической проницаемости образцов использовались цифровые измерители импеданса £С£-819 или £7-25. Изме­

ритель импеданса цифровой LCR-819 [212] позволяет производить измерения в частотном диапазоне частот 12-105 Гц.

Базовая погрешность прибора при измерении сопротивления, ёмкости и индуктивности составляет 0,05 % по последовательной или параллельной эквивалентной схеме. Время измерения: в режиме SLOW -0,896 с, MEDI -0,286 с, FAST -0,135 с. Особенностью прибора является возможность усреднения от 1 до 255 результатов измере­ния при тестовом напряжении от 5 мВ до 1,275 В с шагом 5 мВ. В приборе предусмотрена память на 100 ячеек и возможность подачи внутреннего сме­щения по напряжению 2 В и внешнего до 30 В.

Измеритель иммитанса цифровой EI-25 [213] позволяет проводить из­мерения в частотном диапазоне 25 Гц -1 МГц с уровнем измерительного сиг­нала 40 мВ -1 В. Диапазоны измерения проводимости: W11-IO Ом'1; модуля комплексного сопротивления: W5-IO9Om;угла фазового сдвига: -180o-+180o; индуктивности: W11-IO4Гн; ёмкости: W15-I Ф; тангенса диэлектрических потерь: W4-IO4. Средняя погрешность прибора составляет 0,15 %. Особенно­стью EI-25 является возможность его использования для измерения парамет­ров нелинейных объектов. В приборе предусмотрены режимы низкого уров­ня сигнала и возможность подачи смещающего постоянного напряжения в пределах: 0-60 В. Для повышения точности предусмотрен режим усреднения за 10 и 100 одиночных измерений. Для сопряжения с компьютером EI-25 имеет интерфейс USB 2.0.

Измерение температуры осуществлялось с использованием электрон­ных термометров: CENTER-IM [214] или ГС-6621 [215].

CENTER-ЇМимеет цену деления 0,1 град и скоростью измерения 0,33 изм/с.

Использование хромель-алюмелевой термопары позволяет проводить измерение температуры в широком диапазоне от 73 К до 1643 К с базовой погрешностью ± 0,2 %. В процессе измерений прибор позволяет автоматиче­ски учитывать температуру окружающей среды. Сопряжение с компьютером осуществляется через CCACпорт.

ГС-6621 является калибратором термопар, что позволяет его использо­вать со всеми известными термопарами (К, Т, J, Е, R, S, В, U, L, C, N, NiMoNiCo Platine, Mo).Погрешность измерений составляет ± 0,02 К. Прибор имеет возможность регистрации температуры с программируемой частотой и хранения данных в памяти. Связь с ПК осуществляется через ΠS,Γ-πopτ.

Схема измерительной установки для частотно-температурных измере­ний электрических параметров образцов приведена на рисунке 2.2.1.

Рис. 2.2.1. Блок схема установки для температурных измерений диэлектрических свойств образцов: 1 - исследуемый образец; 2 - нагреватель; 3 - термопара для кон­троля температуры образца

Образец зажимался между двумя никелевыми электродами. Под ниж­ним контактом находилась хромель-алюмелевая термопара. Нагрев прово­дился в печи, питание которой для уменьшения наводок осуществлялось по­стоянным током. В качестве нагревательного элемента применялась нихро­мовая проволока. Печь представляла собой трубу длиной 35 см и внутренним диаметром 3 см, торцы которой закрывались теплоизолирующими заглушка­ми.

Максимальная мощность печи была 660 Вт, что позволяло проводить измерения до температуры 973 К. Градиент температуры в образце при ско­рости нагревания 1 град/мин, в температурном интервале 293-473 К не пре­вышал 0,1-0,2 град/см. В температурном интервале 473-673 К градиент со­

ставлял 0,2-0,5 град/см и выше 773 К доходил до 1 град/см. Результирующая погрешность исследуемых образцов составляла 2-5 % для определения дей­ствительной части диэлектрической проницаемости и 5-10 % для tg

<< | >>
Источник: Меределина Татьяна Александровна. ВЛИЯНИЕ ПРОЦЕССОВ ЭКРАНИРОВАНИЯ НА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА И ТЕМПЕРАТУРУ КЮРИ ПРОВОДЯЩИХ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Благовещенск - 2016. 2016

Еще по теме Методика измерений диэлектрических свойств:

  1. Методика диэлектрических измерений
  2. Измерение вольт-фарадных, частотных и температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь
  3. 19. Проективные методики направлены на измерение свойств личности и особенностей интеллекта.
  4. Измерения диэлектрической проницаемости.
  5. Измерение петель диэлектрического гистерезиса
  6. Температурные измерения диэлектрических характеристик тонких пленок ЦТС
  7. Диэлектрические и пироэлектрические свойства
  8. Методика исследования сегнетоэлектрических материалов методом нелинейной диэлектрической спектроскопии
  9. Методика получения петель диэлектрического гистерезиса
  10. 3.1 Нелинейные диэлектрические свойства композитных сегнетоэлектрических материалов
  11. Диэлектрические свойства проводящих кристаллов KNbO3 при высоких и низких температурах
  12. Диэлектрические свойства сегнетоэлектрических композитов (KH2PO4)1.x/(Pb095Ge005T e)x
  13. Измерение диэлектрической проницаемости с помощью измерителя иммитанса Е7-20 и фазочувствительного измерителя Вектор-175
  14. 1.5.3.Оценка адгезионных свойств металлов в рамках диэлектрического формализма
  15. Исследования диэлектрических свойства монокристаллов парателлурита
  16. Линейные и нелинейные диэлектрические свойства пленочных гетероструктур BaTiO3∕Si
  17. Методика измерений
  18. 2.1 Методика измерений
  19. Глава 4. Исследования диэлектрических, пироэлектрических и пьезоэлектрических свойств тонких пленок ЦТС
  20. Методика антропометрических измерений