Измерение вольт-фарадных, частотных и температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь
Автоматизированный измерительный стенд применялся для измерения вольт-фарадных и частотных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь. Нужно отметить, что предметный столик имел встроенную систему нагрева и контроля температуры, что позволяло проводить температурные измерения в интервале температур 20 - 500 0C.
В состав измерительного комплекса входил измеритель иммитанса МНИЛИ Е7-20, измерительный столик (рисунок 2.6), коммутатор сигнала, персональный компьютер с последовательным интерфейсом стандарта RS-232 и соединительные провода.
Рисунок 2.6 - Измерительный столик с возможностью нагрева, предназначенный
для проведения диэлектрических измерений
У измерителя иммитанса связь с компьютером реализована через порт RS - 232С. Использование интерфейсного устройства RS-232C обеспечивал согласование уровней сигналов и гальваническую развязку измерительных цепей прибора и подключаемой аппаратуры [138].
Измерение вольт-фарадных и частотных зависимостей происходило в автоматическом режиме, экспериментатору необходимо было лишь задавать интервал измерения и шаг. При измерении реверсивных характеристик диэлектрической проницаемости смена полярности также осуществлялась вручную. Измерение частотных зависимости проводились на частотах от 10 до IO6Гц.
C помощью Е7-20 проводились измерения емкости и тангенса диэлектрических потерь на частоте измерения - 10 кГц, с уровнем
измерительного сигнала 40 мВ. Для измерения вольт-фарадных характеристик прикладывалось постоянное напряжение на исследуемый конденсатор, шаг измерений составлял 0,2 В, а интервал напряжений -15 В ÷ 15 В. Измерение
56 температурных зависимостей проводилось на частоте 100 кГц, с уровнем сигнала 40 мВ. Показания заносились в память компьютера вручную, сопоставляя значения термоЭДС термопары с градуировочной таблицей.
Значение диэлектрической проницаемости рассчитывалось по формуле плоского конденсатора:
где ε - эффективная величина диэлектрической проницаемости, C - емкость плоского конденсатора, d- толщина пленки ЦТС, S - площадь верхнего электрода, £о - диэлектрическая постоянная (s-0=8,854?10^12Ф/м).
При приложении смещающих напряжений от 0 В до ± 15 В погрешность измерений составляла 0,5%.
Еще по теме Измерение вольт-фарадных, частотных и температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь:
- Температурные зависимости диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь
- Температурные зависимости диэлектрической проницаемости
- Вольт-фарадные характеристики и тангенс угла диэлектрических потерь
- Измерения диэлектрической проницаемости.
- Температурные измерения диэлектрических характеристик тонких пленок ЦТС
- Измерение диэлектрической проницаемости с помощью измерителя иммитанса Е7-20 и фазочувствительного измерителя Вектор-175
- 24.2. Метод определения диэлектрической проницаемости
- Исследования диэлектрической проницаемости
- Общий подход к описанию дисперсии диэлектрической проницаемости
- Тангенс угла диэлектрических потерь
- Методика диэлектрических измерений
- 1.4 Нелинейная диэлектрическая проницаемость и методы её исследования
- Методика измерений диэлектрических свойств
- Дисперсия диэлектрической проницаемости керамики на основе BTS со слоистой структурой
- Измерение петель диэлектрического гистерезиса
- Зависимость диэлектрических характеристик образцов керамики BTS от числа слоев с разной концентрацией олова.