<<
>>

  4.1.4. Вычисление параметров карты для различных наборов выборок

  В текущей ситуации данные в процессе разбиваются на два набора. Для каждого из них вычисляются статистики, и результаты откладываются на контрольной карте.

Построим X-bar и R карты для переменной Length.

Нажмите кнопку При этом используеся Постоянный объем выборок и Минимальное число наблюдений, которое равно 3.


119

Разделение выборок на подгруппы

Рис.   4.6.

Хотя на R карте все выборки находятся внутри контрольных пределов, на Х-Ьаг имеется много выбросов, которые необходимо рассмотреть.

Задание различных подгрупп. Предположим, нам достоверно известно, что для первых десяти выборок процесс находится под контролем. Начиная с выборки 11, станок заменили на новый. Следовательно, нужно задать два набора выборок и провести вычисления параметров карты для каждого набора отдельно (и определить, сместился ли процесс). Первый набор содержит выборки 1-10, второй - 11 - 20.

120

ввв^

Карта формирования модели анализа различных подгрупп

іпр X-bar и R карты: переменная: LENGTH4

Х-Ьаг и R карты; переменная:   LENGTH

Пстограї із фея і її              ХЧвг: 1D1D.1 (ІОІД.т) і С і газ: 2,5212 (2;S2t2j; gt;:3.

-ІПод контролемі—г;—г!Новый станок І—

_м:              :^..-Г              ._

1D1D.1

іпв.т

На б: Новый станок

Гїстограііа рззаако в

«

Наб: Новый станок

2        і       6       S       S      12      Н      1$      13     2П Раздан: tJ6T3 (i;26T3j; С і па: 23ЭЗТgj!3gr);i:3.

——ІПод контролен              —і—

-гІНо

вый станок 1              ¦¦

:                                          1

[-і-у                            ¦

1UW6

+¦¦*    ш;

¦¦+ч.

/     ч /    S-

+-+ +-і"

ІДЄГЗ

ПДЦ]

!

2        і       б       В       ID      12     11     16      18     20

Изучив X-bar карту, можно сделать вывод, что после установки нового станка процесе действительно сместился. Тем не менее, процесе для каждого набора выборок находится под контролем (т.е., на карте нет выбросов).

Просмотр результатов для различных наборов. Далее построятся таблицы, содержащие параметры карты, отдельно для каждого созданного набора и исходного набора, состоящего из всех выборок. Ниже показан фрагмент таблицы для набора Новый станок.

121

Параметры пригодности процесса

Настройка

Итог для набора: Новый станок (Cover.sta) LENGTH

1

Параметры

Выборкидлявычисл. I                                                   Диапазон выборок

От:   11      До: 20

Число выборок

10

-I

Среднее процесса

1010.091705

Сигма процесса

2.521182

Сигма(еред.)

1,455606

Ср.

размах

4,267273

Сигма(размах)                                                                                   2,239737

lij                                                          х

Рис.   4.8.

Необязательно вычислять контрольные пределы и центральную линию именно по тем выборкам, для которых они потом используются. Возможно вычисление контрольных пределов и центральной линии по выборкам первого набора (когда процесс был под контролем), и использовать эти значения для всех остальных выборок. Так возможна проверка, находится ли процесс под контролем, при использовании параметров контрольной карты, основанных только на первом наборе выборок.

 

<< | >>
Источник: ПАРШИН ДМИТРИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ. АВТОМАТИЗАЦИЯ СИСТЕМЫ ЭКСПЕРТНОГО ОЦЕНИВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ В НЕПРЕРЫВНОМ ПРОИЗВОДСТВЕННОМ ЦИКЛЕ ПРОМЫШЛЕННЫХПРЕДПРИЯТИЙ.  ДИССЕРТАЦИЯна соискание ученой степени кандидата технических наук.Москва - 2008. 2008

Еще по теме   4.1.4. Вычисление параметров карты для различных наборов выборок:

  1. типы выборок, формируемые по различным принципам
  2. Определение набора оптимальных параметров активов
  3. 4.1.3. Двухвыборочный t-тест для связанных выборок (Paired sample T-TEST)
  4. Вычисление параметров преобразования координат между базовым и текущим изображениями
  5. 5.4. Тесты для связанных выборок (Related samples)
  6. Набор инструментов для офтальмологической помощи
  7. 3.1.1. Генерирование набора технологий для производства меднофторопластового композита
  8. 1. Линейные операторы в линейных нормированных пространствах. Равносильность непрерывности и ограниченности линейного оператора. Понятие нормы ограниченного оператора. Различные формулы для вычисления норм. Примеры линейных ограниченных операторов.
  9. ПРИМЕРНЫЙ НАБОР ТЕМ ДЛЯ АНАЛИЗА
  10. Процессуальная основа для прототипной семантики, связанная с набором описаний (дескрипций).
  11. Алгоритмы оптимизации ряда для изделия с силовым параметром
  12. Глава 4. ЭЛЕКТРОННЫЕ КАРТЫ И ФОТОДОКУМЕНТЫ МЕСТНОСТИ, ТОПОГРАФИЧЕСКИЕ КАРТЫ ИНОСТРАННЫХ ГОСУДАРСТВ
  13. 3.1 выбор вида функционала для вычисления навигационной оценки НКА
  14. Приложение 1 Выражения для вычисления элементов матрицы
  15. Пример личностного анализа карты для подбора профессии
  16. Сочетание воздействий электромагнитных полей с различными параметрами. Классы условий труда по показателям вредности и опасности факторов неионизирующих излучений
  17.   Неравные объемы выборок.
  18. Вычисление сенсорной функции плотности условной вероятности для областей обновления