Инфракрасная микроскопия
В пионерской работе Дэша [171] была впервые продемонстрирована возможность поляризационно-оптического выявления дислокаций в монокристаллических пластинах кремния. Эту методику долгое время не удавалось внедрить в исследовательскую практику, т.к.
наблюдения Дэша основывались на использовании неудобной в использовании инфракрасной аппаратуры. В настоящей работе был проведён детальный анализ спектральных характеристик оптических элементов стандартных микроскопов. Было выяснено, что обычные оптические стёкла обладают достаточно высокой пропускной способностью в ближнем ИК диапазоне. Также выяснилось, что стандартные плёночные поляризаторы практически непригодны для работы в ближнем ИК из-за резкого спада коэффициента поляризации, однако это не относится к призменным поляризаторам на основе исландского шпата, которые сохраняют высокие поляризационные параметры во всём диапазоне длин волн от УФ ближнего ИК интервала. При правильном учёте этих свойств и спектральных характеристик источника излучения (лампа накаливания) и фотоприёмника (ПЗС камеры) удалось реализовать ИК режим наблюдений с помощью обычных микроскопов. Изменения, вносимые в их конструкцию, представленную на рисунке 2.7, сводятся к исключению теплового фильтра изсхемы осветителя на лампе накаливания, замену плёночных поляроидов на призменные поляризаторы и выбор ПЗС камеры, работоспособной в ближнем ИК диапазоне.
Рисунок 2.7 - Компоновка оптических элементов стандартного микроскопа (к вопросу о расширении рабочего диапазона длин волн в ближнюю ПК область)
2.2.2
Еще по теме Инфракрасная микроскопия:
- Глава 2. Технологические основы современных сканирующих зондовых микроскопов. Обзор основных методик туннельной микроскопии. Нанотехнологический комплекс «YMKA-02G»
- 3.1.3.2. Измерения с помощью тепловизионных инфракрасных камер
- 2.2.3.4. Определение оптической однородности германия в инфракрасной области спектра интерферометрическим способом3
- Световая микроскопия
- Электронная микроскопия
- Оптическая микроскопия поверхности пленок
- 2.2.4 Растровая электронная микроскопия
- Темнопольная микроскопия
- Сканирующая зондовая микроскопия
- Просвечивающая электронная микроскопия
- СОГЛАСОВАНИЕ СИСТЕМЫ «НАБЛЮДАТЕЛЬ — ОСВЕТИТЕЛЬ — МИКРОСКОП»
- 2.2.1 Оптическая микроскопия
- Люминесцентная микроскопия
- Атомно-силовая микроскопия
- Исследования поверхности с помощью растрового электронного микроскопа
- Фазово-контрастная микроскопия
- Исследования микроструктуры на просвечивающем электронном микроскопе
- Просвечивающая электронная микроскопия (ТЁМ) и технология фокусированного ионного пучка
- 7.1.2. Определение ботанического состава торфа под микроскопом
- 7.1.1. Определение степени разложения торфа под микроскопом
-
Альтернативные научные исследования по физике -
Основы физики -
Физика конденсированного состояния -
-
Архитектура и строительство -
Безопасность жизнедеятельности -
Библиотечное дело -
Бизнес -
Биология -
Военные дисциплины -
География -
Геология -
Демография -
Диссертации России -
Естествознание -
Журналистика и СМИ -
Информатика, вычислительная техника и управление -
Искусствоведение -
История -
Конфликтология -
Культурология -
Литература -
Маркетинг -
Математика -
Медицина -
Менеджмент -
Педагогика -
Политология -
Право России -
Право України -
Промышленность -
Психология -
Реклама -
Религиоведение -
Социология -
Страхование -
Технические науки -
Учебный процесс -
Физика -
Философия -
Финансы -
Химия -
Художественные науки -
Экология -
Экономика -
Энергетика -
Юриспруденция -
Языкознание -