Вычисление вероятности термостимулированной туннельной ионизации U-минус центров
Многие уникальные свойства халькогенидных стекол объясняются наличием в этих материалах высокой концентрации центров с отрицательной корреляционной энергией, или U-минус центров.
Такие центры в основном состоянии оказываются зараженными, половина центров заряжена положительно, а другая половина - отрицательно. Уровни первой и второй ионизации центров расположены вблизи середины запрещенной зоны, поэтому уровень Ферми оказывается закрепленным между уровнями центров Существование значительной концентрации (/-минус центров (порядка IO18см'3) во многих халькогенидах подтверждается отсутствием парамагнетизма (отсутствием неспаренных электронов), а также близкими значениями энергии активации проводимости в материалах, полученных в разных лабораториях при помощи различных методов.Хорошо известно, что (/-минус центры определяют электрические свойства халькогенидных стекол в слабых электрических полях. Поэтому было высказано предположение, что уникальные свойства ХСП в сильных полях, в частности нелинейность BAX и переключение в проводящее состояние, связаны именно C поведением центров в сильном поле. Очевидно, что в сильном поле возрастает вероятность ионизации центра, в результате увеличивается концентрация свободных носителей и проводимость материала. Поэтому ниже мы подробно рассмотрим процессы ионизации центров в сильном поле.
В рассматриваемой модели важен сам факт существования (/-минус центров и их поведение в сильном электрическом поле. Природа таких состояний не конкретизируется и может быть связана с дефектами, мягкими потенциалами, или каким-либо другим механизмом. Поэтому так же как в [70], будем обозначать соответствующие состояния центров как /?. D0, D~, однако, не имея в виду оборванные связи, как это делалось в [70].
Рассмотрим пленку ХСП, к которой приложено электрическое поле. В сильном поле будет происходить стимулированная ионизация U-минус центров, поэтому мы
считаем, что нелинейная проводимость ХСП в сильных электрических полях может быть связана с процессами ионизации и захвата носителей:
Для наглядности будем описывать процессы ионизации и захвата на языке электронов, аналогичные выражения могут быть написаны для случая ионизации и захвата дырок.
Процессы ионизации и захвата носителей электрически активными центрами были рассмотрены в работах группы Переля [71-76], подробное изложение результатов этих работ можно найти в монографии [77] и обзоре [78]. Рассмотрение процессов ионизации центров будет основано на этих работах.
Будем рассматривать / -минус центры в модели Хуанга и Рис, согласно которой адиабатические термы различных состояний центров представляют собой одинаковые сдвинутые параболы. Модель Хуанга и Рис часто используется при теоретических расчетах благодаря своей простоте и возможности получения аналитических результатов. Вначале рассмотрим нейтральный центр D0,такой центр может отдать один электрон и перейти в положительно заряженное состояние D+. При равновесной конфигурации решетки для электрона на центре имеется потенциальная яма. Колебания решетки приводят к изменению потенциала центра, в результате чего меняется энергия СВЯЗИ электрона. Будем считать, что основной вклад в изменение уровней энергии центра вносит одна мода локальных колебаний. Поэтому уровень энергии центра описывается одной конфигурационной координатой, которую обозначим через х.
Поскольку равновесие в подсистеме электронов достигается значительно быстрее характерного времени изменения ядерной конфигурации, можно использовать адиабатическое приближение, согласно которому электронная система в любой момент времени рассматривается как равновесная. В модели Хуанга и Рис энергия связи электрона на центре описывается в линейном приближении [78]
где εo - энергия связи при равновесной конфигурации решетки без электрона, a v - некоторая константа. Сумму электронных энергий и энергий взаимодействия с другими ядрами, формирующую потенциал, в котором двигается ядро центра, называют адиабатическим термом. В простейшем приближении адиабатический термионизованного центра D+вблизи точки равновесия задается выражением
49
В этом выражении энергия и координата отсчитываются от равновесного уровня, M - масса ядра, ω - частота колебаний.
Тогда адиабатический терм D0центра можно представить в виде суммы энергии ионизованного центра U2и энергии электрона на центре -ε⅛.
Адиабатический терм Uι(x)имеет параболическую форму, а минимум энергии достигается при сдвинутом положении равновесия
поэтому модель Хуанга и Рис часто называют моделью одинаковых сдвинутых парабол. Адиабатические термы центров в модели Хуанга и Рис изображены на Рис. 3.1
Рис. 3.1. Схема адиабатических термов в модели Хуанга и Рис
Через Е2 обозначено расстояние от минимума терма (7? до точки пересечения термов, Et - расстояние по энергии между минимумами термов, имеет смысл энергии тепловой ионизации центра. Ниже мы будем использовать стандартные обозначения. Энергию тепловой ионизации D+центра будем обозначать ε∣,а энергию тепловой ионизации Do центра &2.
В халькогенидах энергия ОСНОВНОГО СОСТОЯНИИ (/-минус центров составляет несколько десятых электронвольта, что в несколько раз превышает характерную энергию фононов.
Следовательно, процессы термоионизации и захвата носителей на такие центры являются многофононными.
Рис. 3.2. Туннельная ионизация центра.
Вначале рассмотрим нейтральный центр Do.Ядро такого центра совершает тепловые колебания в потенциале Uι(x).При этом энергия связи электрона на центре изменяется в зависимости от положения ядра согласно (3.2). В точке пересечения термов хс энергия связи обращается в ноль. Упрощенно можно считать, что ионизация происходит каждый раз, когда центр в процессе тепловых колебаний достигает точки хс.
Тогда вероятность термической ионизации электрона в единицу времени равна произведению частоты колебаний на вероятность ядру иметь энергию, большую, чем Ec + Е?
Однако выражение (3.5) справедливо лишь при очень высоких температурах В обычных условиях переход ядра между термами происходит не в точке Xc,а при меньшем отклонении от положения равновесия благодаря квантовому туннелированию ядра. При этом переход с терма Uiна терм ⅛ становится возможным при энергии ядра Е, меньшей Ег (Рис. 3.2). Вероятность туннелирования с некоторого уровня энергии Eможно рассчитать, используя метод комплексных классических траекторий Ландау [80]:
51
Вероятность такого туннельного перехода мала, однако эта малость компенсируется увеличением вероятности термической активации до энергии туннелирования Е. Благодаря тому, что в модели Хуанга и Рис адиабатические термы имеют параболическую форму, интегралы в выражении (3.6) могут быть вычислены аналитически.
Для вычисления вероятности туннелирования рассмотрим неопределенный интеграл
Полученное выражение используем для вычисления определенных интегралов, входящих в выражение (3.6):
Удобно ввести обозначения:
Тогда выражение (3.8) можно записать в виде:
Вероятность ионизации центра можно выразить как интеграл по всем возможным уровням энергии Eот произведения вероятности туннелирования P(E) C соответствующего уровня энергии и вероятности того, что центр в процессе тепловых колебаний будет иметь энергию Ет ÷ E :
Подынтегральное выражение состоит из произведения растущей и падающей экспонент.
Такой интеграл может быть вычислен по методу перевала. Подынтегральное выражение имеет максимум при энергии Eiihкоторая определяется из условия:
52
Для удобства введем обозначение:
Величине т, можно придать смысл времени туннелирования центра под потенциалом U,от точки а, до точки пересечения термов хс:
Для адиабатических термов, описываемых уравнениями (3.13,3.14) значение т, может быть вычислено в явном виде:
C учетом обозначений (3.15) наиболее вероятная энергия туннелирования может быть определена из условия:
Где введена величина Г*, которая, как будет показано ниже, имеет смысл эффективной температуры электронов.
Еще по теме Вычисление вероятности термостимулированной туннельной ионизации U-минус центров:
- Вычисление вероятности дожития и смерти
- Вычисление сенсорной функции плотности условной вероятности для областей обновления
- Комбинаторный метод вычисления вероятностей
- Вычисление функции плотности условной вероятности для перемещения робота
- Глава 1. Современное состояние исследованийв области изучения морфологических характеристик наночастиц и электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец методами атомной, зондовой и туннельной микроскопии
- §6. Условные вероятности. Вероятность произведения независимых событий
- 6.10. Вычисление теплоемкостей cv и cp, сравнение вычисленных значений с опытными
- Занятие 1. Непосредственный подсчет вероятности с использованием классического определения вероятности.
- 3. Минус-эффект антикультуры
- Занятие 3. Условная вероятность. Теорема умножения вероятностей.
- Туннельные диоды
- 1.7.1 Возможности применения датчика ионизации для контроля и регулирования процесса сгорания ТВС в цилиндре двигателя.
- 2.2.1 Датчик ионизации, использованный в эксперименте
- 3.4 Амплитуда импульса тока на датчике ионизации в КС, как характеристика процесса сгорания
- Центр в Традиции и центр в политике
- 1.5.4. Метод определения энергии адгезии при помощи потенциалов ионизации
- Исследование электрических характеристик туннельного контакта зонд-образец
- Автоэлектронная эмиссия (туннельный эффект)
- Измерение вольт-амперных характеристик туннельного контакта вольфрам - золото
- 4. Чистое кредитование (кредитование минус погашение)