<<
>>

Тенденции развития мирового приборостроения на основе CdTe, CdZnTe

В настоящее время основными ведущими производителями мира налажено промышленное производство высококачественных CdTe, CdZnTe детекторов. Характеризуя качество детекторов, обобщенным показателем которого являются транспортные характеристики электронов и дырок μτ, о достигнутом уровне можно судить по следующим цифрам: величина μτe для электронов составляет (3÷30)∙10^3и (l÷3)∙10^3cm2∕B дляCdZnTe и CdTe соответственно.

Величина μτpдля дырок в CdTe детекторах составляет (l÷3)∙104cm2∕B.Перечень основных мировых производителей CdTe, CdZnTe детекторного качества приведен в таблице 1.2, где также приведен основной используемый метод выращивания и примерная доля мирового рынка. На основе этих кристаллов существует большое количество различных фирм и институтов, изготавливающих CdTe, CdZnTe детекторы для различных применений. Как правило, изготовители материала детекторного качества, стремятся также освоить и технологию их изготовления. В нашей стране производство материала CdTe, CdZnTe детекторного качества ведется в нескольких институтах и предприятиях. К сожалению, качество отечественного материала существенно хуже мировых образцов. Так, ведущий российский производитель материала, ОАО «Гиредмет»

выращивает CdZnTe с транспортными характеристиками μτeдля электронов в материале со значениями, не превышающими (0,5÷0,8)∙10^3cm2∕B.

Таблица 1.2. Основные производители CdTe, CdZnTe

Производитель Материал Доля рынка, %
«eV», США CdTe3CdZnTe 36 (CdZnTe)
«Redlen», Канада CdZnTe 25
«Acrorad», Япония CdTe 49
«Eurorad», Франция CdTe3CdZnTe 37 (CdTe)
«Imarad», Израйль CdZnTe 19

О росте мирового производства CdTe, CdZnTe, используемых для изготовления детекторов ионизирующего излучения, можно судить по рисунку 1.1.

Достигнутый прогресс в выращивании CdTe и CdZnTe в настоящее время привели к созданию высококачественных детекторов, применяемых в различных целях. Условно области применения можно разбить на 5 основных групп:

- медицина;

- приборы элементно-структурного и приборы для контроля технологических процессов в промышленности и геологии;

- безопасность;

- космические исследования;

- гамма-спектрометрия.

Детекторы на основе CdTe и CdZnTe в силу своих достоинств (высокая эффективность и энергетическое разрешение) нашли очень широкое в медицинских радиографических установках, где в основном используются в виде пиксельных детекторов. В свою очередь спектр предназначения таких установок широк: от систем рентгеновской компьютерной томографии до небольших радиологических приборов для маммографии. В зависимости от предназначения были созданы пиксельные CdTe и CdZnTe детекторы с величиной питча от 100 мкм до единиц мм. Сигнал с детектора снимается и

обрабатывается с помощью специально разработанных интегральных схем (ASIC).

Рисунок 1.1. Объем рынка монокристаллов CdTe, CdZnTe

Указанные достоинства, а также высокое пространственное разрешение обеспечивает конкурентные преимущества CdZnTe пиксельных детекторов перед стандартными сцинтилляционными сборками, ксеноновыми камерами и детекторами из аморфного кремния или селена.

Другие применения детекторов в медицине связаны C их использованием в ядерной медицине. Были созданы различные гамма-камеры в системах позитронной эмиссионной компьютерной томографии (РЕТ,

SPECT) и миниатюрные медицинские зонды для получения локальной картины состояния лимфатических узлов.

Указанные возможности CdTe и CdZnTe пиксельных детекторов используются также в промышленных рентгеновских установках и компьютерных томографов при неразрушающей диагностике различных деталей и сложных сборок. Просвечивание хорошо поглощающих объектов предполагает использование высокоэнергетических рентгеновских фотонов вплоть до энергии 10 МэВ.

При анализе элементного состава вещества возможны задачи определения концентрации элементов с большим атомным весом. В этих случаях из-за невысокой эффективности определения К-линий характеристического излучения этих элементов обычными кремниевыми детекторами может быть предпочтительной использование блоков детектирования на основе CdTe и CdZnTe детекторов. Для решения подобных задач американской фирмой «Amptek» промышленно выпускается детектор XR-IOOT-CdTe.

Контроль и учет ядерных материалов неразрушающими бесконтактными методами является ключевым элементом глобальной безопасности. В большинстве случаев такая проверка, как известно, проводится с помощью трех групп детекторов гамма-излучения: детекторами NaI, HPGe и CdTe, CdZnTe детекторами. Последняя группа в последнее время приобрела большое распространение из-за появления CdZnTe детекторов большого объема 500 мм3 и 1500 мм3. Благодаря малым размерам CdTe и CdZnTe детекторы позволяют проводить измерения в ограниченных пространствах, вводя туда небольшие зонды или контролировать сборки с отработавшим топливом в воде. Существуют две основные задачи при контроле ядерного топлива: проверка обогащения урана изотопом 235U и степени его выгорания. Для решения этих задач были разработаны детекторы разных конструкций на основе CdTe и CdZnTe. Существуют и другие важные

области использования CdTe и CdZnTe детекторов, например, в портативных спектрометрах и идентификаторах изотопного состава элементов.

Анализ представленных выше данных позволяет установить следующие тенденции развития приборостроения на основе CdTe, CdZnTe:

• Увеличение объема производства кристаллов CdTe, CdZnTe на 10-15% в год.

• Снижение стоимости материала.

• Повышение требований к качеству детекторов - энергетическое разрешение на уровне 0,5-1% по линии радионуклида Цезий-137 662 кэВ с увеличением его объема до 10 см3. Это обусловлено тем, что, хотя детекторы CdZnTe большого объема: превосходят сцинтилляторы NaI по энергетическому разрешению (более 6% по линии 662 кэВ) в последнее время появилось несколько сцинтилляционных материалов, которые будут составлять конкуренцию CdZnTe большого объема: LaBr3(Ce) и LaCl3(Ce). На этих детекторах было достигнуто разрешение 2,9% по линии 662 кэВ. Конкуренцию также могут составить ксеноновые камеры с сеткой Фриша, работающие при большом давлении и показывающие разрешение 2,2% при компенсации.

Таким образом, возрастают требования к однородности детектирующего материала и его структурному совершенству - отсутствию блочности, преципитатов Те и т.д.

1.3.

<< | >>
Источник: СМИРНОВ Александр Александрович. Электрофизические характеристики детектирующих структур на основе CdTe и CdZnTe. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2018. 2018

Еще по теме Тенденции развития мирового приборостроения на основе CdTe, CdZnTe:

  1. Планарные детекторы рентгеновского и гамма-излучения CdTe, CdZnTe на основе структуры МПМ
  2. Анализ технологий изготовления детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe, CdZnTe
  3. Планарные детекторы рентгеновского и гамма-излучения на основе CdTe, CdZnTe с барьером Шоттки или р-п-переходом
  4. ГЛАВА 1. АНАЛИЗ СОСТОЯНИЯ МИРОВОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ НА ОСНОВЕ CdTe и CdZnTe
  5. Области применения детекторов CdTe, CdZnTe
  6. ГЛАВА 2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК CdTe, CdZnTe
  7. СМИРНОВ Александр Александрович. Электрофизические характеристики детектирующих структур на основе CdTe и CdZnTe. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2018, 2018
  8. Транспортные характеристики детектирующих структур CdTe, CdZnTe
  9. Разработка комплексной методики исследования характеристик монокристаллов CdTe и CdZnTe
  10. ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ДЕТЕКТИРУЮЩИХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ CdTe, CdZnTe
  11. Измерение спектрометрических характеристик детектирующих структур из CdTe и CdZnTe
  12. 34. Мировой политический процесс: сущность, содержание, тенденции развития.
  13. ГЛАВА 3. МАТЕМАТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ПРОЦЕССА СБОРА ЗАРЯДА И ФОРМИРОВАНИЯ АМПЛИТУДНОГО СПЕКТРА В ДЕТЕКТОРАХ НА ОСНОВЕ CdTe, CdZnTe ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ГАММА-КВАНТАМИ
  14. Мировое автомобилестроение в современных условиях: значение, структура, основные тенденции развития
  15. 1. 1. Анализ тенденций развития мировой системы высшего профессионального образован lot
  16. Развитие автомобильной промышленности КНР на основе ис­пользования преимуществ интернационализации в контексте перспек­тив развития мирового автомобилестроения
  17. ГЛАВА 1. Роль автомобильной промышленности Китая в контек­сте современных тенденций развития мирового автомобилестроения
  18. Историческая основа русского литературного произношения и современные тенденции развития произносительных норм
  19. Смирнов Александр Александрович. ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТИРУЮЩИХ СТРУКТУР НА ОСНОВЕ CdTe и CdZnTe. АВТОРЕФЕРАТ диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. Тверь - 2018, 2018